[实用新型]光学传感器、监控系统以及处理机器有效
申请号: | 201220193979.5 | 申请日: | 2012-04-28 |
公开(公告)号: | CN202885782U | 公开(公告)日: | 2013-04-17 |
发明(设计)人: | 卢卡·德文琴齐 | 申请(专利权)人: | 西得乐独资股份公司 |
主分类号: | G01B11/04 | 分类号: | G01B11/04 |
代理公司: | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人: | 余刚;吴孟秋 |
地址: | 意大利*** | 国省代码: | 意大利;IT |
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摘要: | 本实用新型涉及并提供了一种光学传感器(12)、监控系统以及处理机器。所述光学传感器用于适于连续进给且包括多个单位元件(3′、3″)的循环印刷介质(3)的监控系统,该光学传感器包括:图像捕获单元(12′),配置为获取介质(3)的图像;以及处理单元(19),配置为包括:识别获取的图像中的单个单位元件的模块,针对每个单位元件来识别与测试单位元件的参考区对应的特征区的模块;以及根据识别的特征区来确定单位元件的实际长度的模块;还包括用户界面(20),包括输入装置(23a-23d),所述输入装置配置为允许操作员输入测试单位元件的参考区的至少一个长度参数。本实用新型不要求在标签上具有标记或其他符号,由此允许实现美学优势、以及节省成本的优势。 | ||
搜索关键词: | 光学 传感器 监控 系统 以及 处理 机器 | ||
【主权项】:
一种光学传感器(12),用于适于连续进给且包括多个单位元件(3′、3″)的循环印刷介质(3)的监控系统,所述光学传感器(12)包括:‑图像捕获单元(12′),配置为获取所述介质(3)的图像;以及‑处理单元(19),配置为包括:识别获取的图像中的单个单位元件的模块,针对每个单位元件来识别与测试单位元件的参考区对应的特征区的模块;以及根据识别的特征区来确定所述单位元件的实际长度的模块,其特征在于,包括用户界面(20),包括输入装置(23a‑23d),所述输入装置配置为允许操作人员输入所述测试单位元件的所述参考区的至少一个长度参数。
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