[发明专利]激光合束发射光路微小位差与角差同步检测系统有效

专利信息
申请号: 201210594299.9 申请日: 2012-12-29
公开(公告)号: CN103017659A 公开(公告)日: 2013-04-03
发明(设计)人: 陈兆兵;陈宁;时魁;王兵;郭劲 申请(专利权)人: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
主分类号: G01B11/00 分类号: G01B11/00;G01B11/26;G02B27/10
代理公司: 长春菁华专利商标代理事务所 22210 代理人: 张伟
地址: 130033 吉*** 国省代码: 吉林;22
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摘要: 激光合束发射光路微小位差与角差同步检测系统属于光电检测领域,目的在于解决传统的远场实光标校式激光角位差检测与装调方法下大量耗费人力物力且效率低下的问题,同时解决当前所采用的单点式近场激光角位差检测方法下无法有效区分各激光束间的小角位差,因而需要通过进行一定的远场标校方式进行验证的弊端。本发明采用单探测器、两距离点探测式的方法实现实验室条件下的激光合束系统中各激光束间角差与位差的分离,从而利用这种精确测量值进行高精度合束激光室内装调。此方案能够简化检测方法、提高检测与装调效率、降低装调难度。
搜索关键词: 激光 束发 射光路 微小 同步 检测 系统
【主权项】:
激光合束发射光路微小位差与角差同步检测系统,包括激光束(1)、整形镜组(2)、衰减片镜组(3)、半反半透分光镜(4)、第一反射镜(7)、第二反射镜(8)、第三反射镜(9)、第四反射镜(10)、反射透射镜(11)、光束分流镜组(12)、激光探测器(13)和安装外壳(14),激光束(1)经整形镜组(2)后形成小光斑准直光束,通过衰减片镜组(3)的旋转并根据出射的激光束(1)的波段与功率密度选择对应的衰减片,激光束(1)通过半反半透分光镜(4)分为近场激光束(6)和远场激光束(5),近场激光束(6)经过光束分流镜组(12)和反射透射镜(11)入射到激光探测器(13),远场激光束(5)通过第一反射镜(7)、第二反射镜(8)、第三反射镜(9)、第四反射镜(10)及反射透射镜(11)反射后与近场激光束(6)合成为一束后入射至激光探测器(13)中。
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