[发明专利]多MBI模块测试方法有效

专利信息
申请号: 201210593714.9 申请日: 2012-12-31
公开(公告)号: CN103913693A 公开(公告)日: 2014-07-09
发明(设计)人: 樊江锋;周龙;姚莉娟;王旭东;徐连波 申请(专利权)人: 中国航空工业集团公司第六三一研究所
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28
代理公司: 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 代理人: 王少文
地址: 710068 *** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明通过MBI模块高位地址线A19-A16和CPU模块的A23-A16自检的交叉连接,实现多个同类MBI模块占用CPU模块不同的接口地址,达到一个CPU模块同时可以测试多块MBI的方法。解决传统的MBI接口测试方法为CPU和MBI的一对一测试,测试方法投入的工装CPU模块数量大,成本高的技术问题。提高了接口测试完整性,有效解决单MBI模块在试验过程中主机接口部分电路无法进行测试,测试覆盖率不全面的问题;提高一次试验能力,降低了工装CPU模块数量和成本。
搜索关键词: mbi 模块 测试 方法
【主权项】:
一种多MBI模块测试方法,其特征在于:包括以下步骤:1.1】、选择高地址位的主机板CPU;1.2】、将高地址位的CPU的预留测试空间分成若干区,每一测试分区用于测试一个MBI;1.3】、将MBI模块高位地址线和CPU模块的进行自检的交叉连接,实现多个同类MBI模块占用CPU模块不同的接口地址;1.4】、通过软件编程的方法保证主机板CPU测试程序可以同时初始化和启动5块MBI模块。
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