[发明专利]一种测量物体发射率的测量系统及方法有效
| 申请号： | 201210591729.1 | 申请日： | 2012-12-29 |
| 公开（公告）号： | CN103063312A | 公开（公告）日： | 2013-04-24 |
| 发明（设计）人： | 屈惠明;李圆圆;陈钱;顾国华;郑奇;曹丹;刘文俊;龚靖棠;黄源 | 申请（专利权）人： | 南京理工大学 |
| 主分类号： | G01J5/00 | 分类号： | G01J5/00;G01J5/08 |
| 代理公司： | 南京理工大学专利中心 32203 | 代理人： | 朱显国 |
| 地址： | 210094 *** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种测量物体发射率的测量系统及方法，测量系统包括探测器、辐射源和分光镜，探测器置于与被测物体及分光镜同一光路中，辐射源与探测器、分光镜所处光路所在的直线垂直，并与分光镜处于同一直线上；分光镜分别与探测器探测面、辐射源表面成45度角，分光镜处于被测物体与探测器中间光路。所述发射率测量方法涉及同过改变辐射源的辐射量分别测量探测器的输出值，利用发射率推导公式进行计算。本发明系统安装简单，测量光路稳定并且易于调整，操作方便；能够避免绝对测量造成的误差，从而实现发射率的精确测量。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测量 物体 发射 系统 方法 | ||
【主权项】：
一种测量物体发射率的测量系统，其特征在于：包括探测器[1]、辐射源[2]和分光镜[3]，探测器[1]置于与被测物体[4]及分光镜[3]同一光路中，辐射源[2]提供主动辐射，与探测器[1]、分光镜[3]所处光路所在的直线垂直，并与分光镜[3]处于同一直线上；分光镜[3]分别与探测器[1]探测面、辐射源[2]表面成45度角，分光镜[3]处于被测物体[4]与探测器[1]中间光路；辐射源[2]表面入射光线与分光镜[3]反射面成45度角，经分光镜[3]表面反射的光线到达被测物体[4]，光线经被测物体[4]表面反射到达分光镜[3]并经分光镜[3]透射到达探测器[1]表面。
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