[发明专利]用于物质成份分析的光谱探测系统及其探测方法

摘要

本发明适用于光学探测技术领域，提供了一种用于物质成份分析的光谱探测系统及其探测方法。该光谱探测系统包括：激光器装置，先后产生至少两种波长的激光以及一同步信号；光谱信号收集组件，收集待分析样品分别被两种激光脉冲激发后产生的激光诱导击穿光谱LIBS信号和RRS光谱信号；分光组件，分别将波长不同的LIBS信号和RRS光谱信号有效分离；带有门控功能的物质成份分析装置，根据激光器装置的同步信号探测接收经分光组件分离的LIBS信号或RRS光谱信号，并比对已有的光谱信息数据分析出样品的原子成份和分子成份，从而识别物质的组成成份。因此，本发明通过使用单独一台脉冲激光器可在一套系统上实现LIBS和RRS光谱信号的激发和收集探测，从而获取物质的原子光谱和分子光谱，进而达到对含有多种物质成份或未知物质成份的待测目标进行物质成份的定量分析的目的。

主权项

一种用于物质成份分析的光谱探测系统，其特征在于，一激光器装置，用于先后产生至少两种波长的激光脉冲以及一同步信号，其中第一波长的光用作LIBS激发光，第二波长的光用作RRS激发光；光谱信号收集组件,用于收集待分析样品分别被两种激光脉冲激发后产生的LIBS信号和RRS光谱信号；分光组件，分别将波长不同的LIBS信号和RRS光谱信号有效分离；带有门控功能的物质成份分析装置，用于根据所述激光器装置的同步信号接收经分光组件分离的LIBS信号或RRS光谱信号，并比对已有的光谱信息数据分析出样品的原子成份和分子成份，从而识别物质的组成成份。