[发明专利]可程控的纳米级别集成电路内置自检控制器无效
| 申请号： | 201210572608.2 | 申请日： | 2012-12-20 |
| 公开（公告）号： | CN103033739A | 公开（公告）日： | 2013-04-10 |
| 发明（设计）人： | 黄宇 | 申请（专利权）人： | 天津联芯科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R31/3183;H03L7/099 |
| 代理公司： | 天津盛理知识产权代理有限公司 12209 | 代理人： | 王利文 |
| 地址： | 300384 天津市南*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种可程控的纳米级别集成电路内置自检控制器，其技术特点是：包括核心功能控制单元、PLL控制器和多个多路复用器，所述的核心功能控制单元输出的控制信号与PLL控制器的输入端相连接，该PLL控制器的输出信号及外部时钟信号连接到多个多路复用器的输入端上，每个多路复用器的输出端连接到PLL交换电路上，该PLL交换电路输出多个时钟域与核心待测电路相连接，核心功能控制单元的测试控制端与核心待测电路相连接实现对其进行测试控制功能。本发明设计合理，能够方便地对有多个时钟域和多个时钟频率的设计进行全速检测和芯片纠错，可在增加少量硬件开销的基础上，有效提高了缺陷检测的覆盖率。 | ||
| 搜索关键词： | 程控 纳米 级别 集成电路 内置 自检 控制器 | ||
【主权项】：
一种可程控的纳米级别集成电路内置自检控制器，其特征在于：包括核心功能控制单元、PLL控制器和多个多路复用器，所述的核心功能控制单元输出的控制信号与PLL控制器的输入端相连接，该PLL控制器的输出信号连接到多个多路复用器的一输入端上，每个多路复用器的另一输入端与外部时钟信号相连接，每个多路复用器的输入控制端与核心功能控制单元输出的BIST运行信号相连接，每个多路复用器的输出端连接到PLL交换电路上，该PLL交换电路的信号输入端还与PLL信号相连接，该PLL交换电路输出多个时钟域与核心待测电路相连接，该PLL交换电路还输出一单独时钟BIST_CLK信号分别与PLL控制器及核心功能控制单元相连接，核心功能控制单元的测试控制端与核心待测电路相连接实现对其进行测试控制功能。
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