[发明专利]一种物体识别中基于SIFT特征尺度分量的两级匹配方法无效
申请号: | 201210555887.1 | 申请日: | 2012-12-20 |
公开(公告)号: | CN103886314A | 公开(公告)日: | 2014-06-25 |
发明(设计)人: | 艾浩军;艾雄军;艾晓敏 | 申请(专利权)人: | 武汉三际物联网络科技有限公司 |
主分类号: | G06K9/46 | 分类号: | G06K9/46 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 430000 湖北省武汉*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | 本发明提供了一种物体识别中基于SIFT特征尺度分量的两级匹配方法,属于计算机视觉领域。本发明包括第一级初匹配部分和第二级精匹配两部分,第一级初匹配部分先提取出两幅图像的SIFT特征点,然后分别以两组特征向量为基准,利用基于比值的准则对其进行判定,计算匹配点对集合,最后对两个集合取并集,得到初步的匹配点对提供给下一级继续匹配;第二级精匹配部分先对上一级匹配得到的点对进行处理,即计算各点对的尺度比值,然后计算这个尺度比值集合的均值和方差,制定新的匹配准则对筛选匹配点对,得到最终的匹配结果。本发明提供了两级匹配步骤,第一步选择出较多的匹配点对,再利用SIFT特征的尺度分量特征,经过第二步筛选精选出匹配点对,剔除误匹配点对,能够提高同类物体间的识别率和不同类物体间的区分性,因此适合与物体识别的应用中。 | ||
搜索关键词: | 一种 物体 识别 基于 sift 特征 尺度 分量 两级 匹配 方法 | ||
【主权项】:
1.一种在物体识别中的SIFT特征两级匹配方法,其特征在于,所述方法包括:(1)第一级初匹配部分:首先分别提取两幅图像1和2的SIFT特征,以图像1为基准,利用基于比值的准则求其中每个SIFT特征点在图像2中的匹配点,将点与点匹配的序号索引记录下来,再以图像2为基准重复上述步骤,最后将两次的索引结合起来取并集,即得到第一级匹配的点对;(2)第二级精匹配部分:首先计算第一级匹配点对的比值,再计算比值集合的方差,如果方差大于某个阈值
就直接认为两者不匹配,反之再判定各匹配点对的比值是否在一个比值区间
内,如果在该区间内则保留该匹配点,反之去除该匹配点,最后计算剩余的匹配点数作为匹配结果。
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