[发明专利]线圈测试装置、磁共振系统及其输出校正方法和装置有效

专利信息
申请号: 201210552668.8 申请日: 2012-12-18
公开(公告)号: CN103869268B 公开(公告)日: 2017-07-04
发明(设计)人: 阳昭衡 申请(专利权)人: 上海联影医疗科技有限公司
主分类号: G01R33/36 分类号: G01R33/36
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 201815 上*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 一种线圈测试装置、磁共振系统及其输出校正方法和装置,所述线圈测试装置的输出校正方法包括在线圈测试装置的输出端口未接入负载时,对所述输出端口的信号进行采样,得到第一校正数据;在所述输出端口接入可调负载和测量仪表;调整所述可调负载,使所述测量仪表的读数为预定值,对所述输出端口的信号进行采样,得到第二校正数据;建立所述输出端口对应的校正函数;在测量时,对所述输出端口的信号进行采样,得到所述输出端口的信号对应的采样数据;调用所述输出端口对应的校正函数,以获得所述输出端口的信号的参数值。本技术方案提供的线圈测试装置的输出校正方法和装置,提高了校正结果的准确度、校正效率及需要保密的代码的安全性。
搜索关键词: 线圈 测试 装置 磁共振 系统 及其 输出 校正 方法
【主权项】:
一种线圈测试装置的输出校正方法,其特征在于,包括:在线圈测试装置的输出端口未接入负载时,对所述输出端口的信号进行采样,得到第一校正数据;在所述输出端口接入可调负载和测量仪表;调整所述可调负载,使所述测量仪表的读数为预定值,对所述输出端口的信号进行采样,得到第二校正数据;建立所述输出端口对应的校正函数:ax*(A1‑A0)=(Ax‑A0)*N,其中,ax表示所述输出端口的信号的参数值,Ax表示所述输出端口的信号对应的采样数据,A0表示所述第一校正数据,A1表示所述第二校正数据,N表示所述预定值;在实际测量时,对所述输出端口的信号进行采样,得到所述输出端口的信号对应的采样数据;调用所述输出端口对应的校正函数,以获得所述输出端口的信号的参数值。
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