[发明专利]同轴检测光正入射获得干涉图像的装置无效

专利信息
申请号: 201210532930.2 申请日: 2012-12-11
公开(公告)号: CN102980873A 公开(公告)日: 2013-03-20
发明(设计)人: 吕彦飞;董渊;李述涛;刘冬;刘会龙;金光勇;张喜和 申请(专利权)人: 长春理工大学
主分类号: G01N21/45 分类号: G01N21/45;G01B11/26;G01K11/20
代理公司: 长春菁华专利商标代理事务所 22210 代理人: 陶尊新
地址: 130022 吉林*** 国省代码: 吉林;22
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摘要: 同轴检测光正入射获得干涉图像的装置属于激光检测技术领域。本发明前圆周透镜与后圆锥透镜二者同轴且圆锥顶角相对,前圆锥透镜的底面朝向检测光光源,前圆锥透镜及后圆锥透镜均沿圆锥轴线开通孔,检测光入射轴线与该通孔轴线同轴;光阑位于在后圆锥透镜底面上,光阑的通光孔轴线与所述通孔轴线同轴;在后圆锥透镜底面一侧的光路上与检测光入射轴线成45°角安置前平面镜,后平面镜与前平面镜平行,过二者几何中心的轴线与检测光入射轴线垂直;检测光出射轴线与检测光入射轴线平行且过后平面镜几何中心;正透镜位于检测光出射光路上,正透镜光轴与检测光出射轴线同轴;干涉条纹图像接收装置为CCD摄像机,CCD摄像机感光面位于正透镜成像焦平面上。
搜索关键词: 同轴 检测 入射 获得 干涉 图像 装置
【主权项】:
一种同轴检测光正入射获得干涉图像的装置,包括检测光光源(6)和干涉条纹图像接收装置,其特征在于,前圆周透镜(7)与后圆锥透镜(8)二者同轴且圆锥顶角相对,前圆锥透镜(7)的底面朝向检测光光源(6),前圆锥透镜(7)及后圆锥透镜(8)均沿圆锥轴线开通孔,检测光入射轴线与该通孔轴线同轴;光阑(9)位于在后圆锥透镜(8)底面上,光阑(9)的通光孔轴线与所述通孔轴线同轴;在后圆锥透镜(8)底面一侧的光路上与检测光入射轴线成45°角安置前平面镜(10),后平面镜(11)与前平面镜(10)平行,过二者几何中心的轴线与检测光入射轴线垂直;前平面镜内镜面a及后平面镜内镜面c膜系对检测光具有高反射率、对于泵浦光和振荡激光具有高透射率,前平面镜外镜面b及后平面镜外镜面d膜系对于泵浦光和振荡激光具有高透射率;检测光出射轴线与检测光入射轴线平行且过后平面镜(11)几何中心;正透镜(12)位于检测光出射光路上,正透镜(12)光轴与检测光出射轴线同轴;干涉条纹图像接收装置为CCD摄像机(13),CCD摄像机(13)感光面位于正透镜(12)成像焦平面上。
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