[发明专利]一种遍历晶粒不规则区域的多区域图像检测方法有效
申请号: | 201210515505.2 | 申请日: | 2012-12-05 |
公开(公告)号: | CN103018154A | 公开(公告)日: | 2013-04-03 |
发明(设计)人: | 周庆亚;高建利;侯为萍;孟宪俊;周冉 | 申请(专利权)人: | 中国电子科技集团公司第四十五研究所 |
主分类号: | G01N15/14 | 分类号: | G01N15/14;G01V8/10 |
代理公司: | 北京中建联合知识产权代理事务所 11004 | 代理人: | 朱丽岩;刘湘舟 |
地址: | 100176 北京市大*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明公开了一种遍历晶粒不规则区域的多区域图像检测方法,所述的方法通过使用图像采集设备对晶粒图像拍照,并把晶粒图像传送到固晶机设备控制计算机中,由设备控制计算机中对该图像进行分析处理,判断出图像中多个区域的晶粒有无情况,并根据该有无情况,驱动工作台电机的运转,实现工作台的步进动作,最后完成对不规则区域内的晶粒的遍历。本方法可在电机速度和图像处理效率不变的情况下,提高晶粒的遍历效率,并有效避免了工作台无谓的空步进状况的出现;在整个晶粒区域遍历过程中,通过多个区域的判断,引导工作台的遍历跳转动作,防止工作台脱离晶粒区域,提高了单次晶粒区域遍历的完整性。 | ||
搜索关键词: | 一种 遍历 晶粒 不规则 区域 图像 检测 方法 | ||
【主权项】:
一种遍历晶粒不规则区域的多区域图像检测方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤一、通过图像采集设备采集晶粒承载工作台上的晶粒的图像输入设备控制计算机;步骤二、所述设备控制计算机根据预先设置的晶粒模板信息对所述图像进行处理,按预设方法辨识所述图像中多个设定区域的晶粒分布情况和位置信息;步骤三、所述设备控制计算机根据所述晶粒分布情况和位置信息,计算驱动所述晶粒承载工作台的电机的移动量,并根据所述移动量驱动所述晶粒承载工作台将识别到的晶粒送到分检装置分检。
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