[发明专利]制备微透镜阵列的方法无效

专利信息
申请号: 201210505204.1 申请日: 2012-11-30
公开(公告)号: CN102967891A 公开(公告)日: 2013-03-13
发明(设计)人: 査国伟;喻颖;李密峰;王莉娟;倪海桥;贺正宏;牛智川 申请(专利权)人: 中国科学院半导体研究所
主分类号: G02B3/00 分类号: G02B3/00
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 曹玲柱
地址: 100083 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供了一种制备微透镜阵列的方法。该方法包括:在镓系半导体衬底上制备腐蚀掩模图形,该腐蚀掩模图形上分布若干的圆孔阵列,该圆孔阵列与待制备微透镜阵列在位置与形状上相对应;在低温下,将具有腐蚀掩模图形的镓系半导体衬底平放入可生成Br2的腐蚀液中进行腐蚀,其中,该腐蚀液的溶质为可生成Br2的反应物,溶剂为低熔点辅助溶剂;以及去除镓系半导体衬底上的腐蚀掩模图形,形成微透镜阵列。本发明采用低温腐蚀溶液,有效地降低了腐蚀过程中的侧向钻蚀效应,能够有效地限定微透镜的横向尺寸。
搜索关键词: 制备 透镜 阵列 方法
【主权项】:
一种制备微透镜阵列的方法,其特征在于,包括:在镓系半导体衬底上制备腐蚀掩模图形,该腐蚀掩模图形上分布若干的圆孔阵列,该圆孔阵列与待制备微透镜阵列在位置与形状上相对应;在低温下,将具有腐蚀掩模图形的镓系半导体衬底平放入可生成Br2的腐蚀液中进行腐蚀,其中,该腐蚀液的溶质为可生成Br2的反应物,溶剂为低熔点辅助溶剂;以及去除所述镓系半导体衬底上的腐蚀掩模图形,形成微透镜阵列。
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