[发明专利]一种基于X射线元素荧光的岩石样品岩性定名的分析方法

摘要

本发明涉及一种基于X射线元素荧光的岩石样品岩性定名的分析方法。本方法利用X射线荧光光谱仪对未知岩石样品岩性进行分析定名。首先确定各种岩性在分析时使用的元素种类，然后将此地区测得的已知岩性样品的元素含量数据存入模板数据库。软件根据使用的元素种类及模板数据库自动识别元素正态分布的期望值与标准差。根据样品元素含量及期望值与标准差，计算出该样品这种岩性的概率值。最终取概率值最高的岩性名为此岩石样品的岩性名。本方法在对油田现场录井复杂地层的高维元素分析中，通过对已知岩性的统计、分类、分析后的模板建立，提高了岩性定名的准确性，实施本方法不需要对模板建立人员的苛刻要求，便于在油田现场录井作业中推广和应用。

主权项

一种基于X射线元素荧光的岩石样品岩性定名的分析方法，其特征在于，利用X射线荧光光谱仪对未知岩石样品岩性进行分析定名，其分析步骤如下：一、建立模板数据库：首先人工选定各岩性使用的分析元素种类，对同一地区已知岩性的岩石样品进行数据采集并汇总存入模板数据库；二、建立模板：根据选定的分析元素的含量通过模板数据库获得已知岩性样品各岩性各元素含量分布的期望值与标准差，并保存到模板文件；三、检测并读取未知岩性样品元素含量数据；四、根据已知岩石样品各岩性各元素含量分布的期望值与标准差以及未知岩性样品元素数据，使用正态分布模型计算未知岩性样品各岩性各元素的概率值；五、对未知岩性样品各岩性各元素概率值取几何平均值；六、比较未知岩性样品各岩性各元素概率值的几何平均值，其中最高值的岩性即为未知岩性的岩性名。