[发明专利]一种便携式中心遮拦结构杂散光检测装置有效
申请号: | 201210488298.6 | 申请日: | 2012-11-26 |
公开(公告)号: | CN102944533A | 公开(公告)日: | 2013-02-27 |
发明(设计)人: | 张红鑫;孙明哲;卜和阳;卢振武 | 申请(专利权)人: | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
主分类号: | G01N21/49 | 分类号: | G01N21/49 |
代理公司: | 长春菁华专利商标代理事务所 22210 | 代理人: | 南小平 |
地址: | 130033 吉*** | 国省代码: | 吉林;22 |
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摘要: | 一种便携式中心遮拦结构杂散光检测装置,属于光学检测技术领域,为解决现有技术对光学透镜杂散光检测方法成本高、设备便携性差及效率低的问题,本发明装置由照明系统、中心遮拦、有限远距离成像系统和CCD系统组成,且各个组成部分同轴放置;照明系统发出的平行光入射到待检透镜上,光经待检透镜聚焦到有限远距离成像系统上的中心遮拦上;部分光被待检透镜表面的散射点散射,光经散射后再经有限远距离成像系统成像在CCD系统上,该装置具有成本低、效率高、方便携带的优点。 | ||
搜索关键词: | 一种 便携式 中心 遮拦 结构 散光 检测 装置 | ||
【主权项】:
一种便携式中心遮拦结构杂散光检测装置,其特征是,该装置由照明系统(1)、中心遮拦(3)、有限远距离成像系统(4)和CCD系统(5)组成,且各个组成部分同轴放置;照明系统(1)发出的平行光入射到待检透镜(2)上,光经待检透镜(2)聚焦到有限远距离成像系统(4)上的中心遮拦(3)上;部分光被待检透镜(2)表面的散射点散射,光经散射后再经有限远距离成像系统(4)成像在CCD系统(5)上。
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