[发明专利]用于检测包络的方法和设备有效
| 申请号： | 201210477853.5 | 申请日： | 2012-11-22 |
| 公开（公告）号： | CN103139121B | 公开（公告）日： | 2017-10-24 |
| 发明（设计）人： | 尹胜槿;权义根;金尚骏 | 申请（专利权）人： | 三星电子株式会社 |
| 主分类号： | H04L27/00 | 分类号： | H04L27/00 |
| 代理公司： | 北京铭硕知识产权代理有限公司11286 | 代理人： | 韩明星 |
| 地址： | 韩国京畿*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 提供了一种用于检测包络的方法和设备。所述方法和设备可通过对于具有相同时间间隔的多个采样信号检测包络，基于低计算复杂度和简单的电路结构检测调制信号的包络。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 检测 包络 方法 设备 | ||
【主权项】：
一种检测包络的方法，所述方法包括如下步骤：从与调制信号对应的多个采样信号中提取采样信号；从提取的采样信号中区分目标采样信号；基于与目标采样信号关联的分量与与提取的采样信号中的其它采样信号关联的分量之差，计算目标采样信号的包络分量值；以及基于计算的包络分量值检测调制信号的包络，其中，所述计算的步骤包括：对目标采样信号执行求平方，以计算与目标采样信号关联的分量；对所述其它采样信号之间执行乘法，以计算与所述其它采样信号关联的分量；对通过将所述其它采样信号相乘获得的值执行加法；执行从通过求平方获得的值减去通过加法而获得的值的减法,其中，从所述多个采样信号中提取2N+1个采样信号，其中，N是等于或大于1的自然数，其中，所述提取的采样信号按照相同时间间隔被采样。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于三星电子株式会社，未经三星电子株式会社许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201210477853.5/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种沟槽MOS结构半导体装置及其制造方法
- 下一篇：多功能导游器
