[发明专利]一种Seebeck系数测试装置

摘要

本发明涉及一种Seebeck系数测试装置，它包括陶瓷底座，陶瓷底座采用由一体成型的长边端和短边端构成的L型结构，长边端内横向间隔埋设有两加热管，两加热管分别与可控硅调压器连接；在陶瓷底座的短边端上，设置有与长边端垂直的两集热铜块，且两集热铜块与两加热管呈对应设置；在两集热铜块之间设置有两热电偶，且两热电偶一端分别与两路铜导线一端焊接成一个结点，该结点与陶瓷底座的长边端上表面之间夹设有试样，两热电偶另一端穿设在陶瓷底座的短边端内，并连接万用表的温度采集通道；两路铜导线另一端穿过陶瓷底座的短边端，依次连接万用表的电压采集通道和计算机，通过万用表将采集到的试样温度和电压信号通过GPIB接口输入至计算机内实时显示并记录。本发明能在半导体测试领域中广泛应用。

主权项

一种Seebeck系数测试装置，其特征在于：它包括温差实现系统和信号采集系统，所述温差实现系统包括一陶瓷底座、两加热管、一可控硅调压器和两集热铜块；所述信号采集系统包括两热电偶、铜导线、一万用表和一计算机；所述陶瓷底座采用由一体成型的长边端和短边端构成的L型结构，所述长边端内横向间隔埋设有所述两加热管，所述两加热管分别与所述可控硅调压器连接；在所述陶瓷底座的短边端上，设置有与所述长边端垂直的所述两集热铜块，且所述两集热铜块与所述两加热管呈对应设置；在所述两集热铜块之间设置有所述两热电偶，且所述两热电偶一端分别与两路所述铜导线一端焊接成一个结点，该结点与所述陶瓷底座的长边端上表面之间夹设有试样，所述两热电偶另一端穿设在所述陶瓷底座的短边端内，并连接所述万用表的温度采集通道；两路所述铜导线另一端穿过所述陶瓷底座的短边端，依次连接所述万用表的电压采集通道和计算机，通过所述万用表将采集到的试样温度和电压信号通过GPIB接口输入至所述计算机内实时显示并记录。