[发明专利]一种光配向液晶材料的终点检测方法及装置有效
| 申请号： | 201210467331.7 | 申请日： | 2012-11-19 |
| 公开（公告）号： | CN102929017A | 公开（公告）日： | 2013-02-13 |
| 发明（设计）人： | 徐亮 | 申请（专利权）人： | 深圳市华星光电技术有限公司 |
| 主分类号： | G02F1/13 | 分类号： | G02F1/13;G02F1/1337;G01N21/35 |
| 代理公司： | 深圳汇智容达专利商标事务所(普通合伙) 44238 | 代理人： | 潘中毅;熊贤卿 |
| 地址： | 518132 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种光配向液晶材料的终点检测方法，包括以下步骤：对液晶材料进行光配向，其包括：在电场作用下，利用辐射光照射液晶材料，以使液晶材料中的反应单体发生聚合反应；检测所述液晶材料中所述反应单体的残留数量或所述液晶材料中液晶盒的厚度变化数值，判断检测出的所述反应单体的残留数量或所述液晶盒的厚度变化数值是否达到了预设值，当判断为是时，为所述液晶材料光配向的终止点。本发明还公开了一种光配向液晶材料的终点检测装置。实施本发明的光配向液晶材料的终点检测方法及装置，通过检测光配向的终止点控制配向的反应终点，降低玻璃基板个体差异对光配向的影响，且不会影响反应单体进行配向的反应过程。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 液晶 材料 终点 检测 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种光配向液晶材料的终点检测方法，包括以下步骤：对液晶材料进行光配向，其包括：在电场作用下，利用辐射光照射液晶材料，以使液晶材料中的反应单体发生聚合反应；检测所述液晶材料中所述反应单体的残留数量或所述液晶材料中液晶盒的厚度变化数值，判断检测出的所述反应单体的残留数量或所述液晶盒的厚度变化数值是否达到了预设值，当判断为是时，所述液晶材料光配向终止。
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