[发明专利]磁共振弹性成像精确度检测方法有效
申请号: | 201210460717.5 | 申请日: | 2012-11-15 |
公开(公告)号: | CN102920457A | 公开(公告)日: | 2013-02-13 |
发明(设计)人: | 丁玉琼;黄文慧;钟耀祖;张丽娟;刘新;郑海荣 | 申请(专利权)人: | 中国科学院深圳先进技术研究院 |
主分类号: | A61B5/055 | 分类号: | A61B5/055 |
代理公司: | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人: | 吴平 |
地址: | 518055 广东省深圳*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 一种磁共振弹性成像精确度检测方法,包括以下步骤:获取在预定外力作用下,通过磁共振弹性成像所得的预定成像区域的成像位移值;获取所述预定外力及所述预定成像区域的弹性模量的大小;根据所述预定外力大小,得到所述预定成像区域的应力大小;由所述预定成像区域的应力及弹性模量的大小,得到所述预定成像区域的理论位移值;将所述预定成像区域的理论位移值与通过磁共振弹性成像所得的成像位移值进行比较,检测出磁共振弹性成像的精确度。上述磁共振弹性成像精确度检测方法采用有限体积元法,由预定成像区域的应力及弹性模量的大小,得到理论位移值,为在磁共振弹性成像获取位移图后,逆计算求解成像区域的弹性模量提供了参考。 | ||
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【主权项】:
一种磁共振弹性成像精确度检测方法,其特征在于,包括以下步骤:获取在预定外力作用下,通过磁共振弹性成像所得的预定成像区域的成像位移值;获取所述预定外力及所述预定成像区域的弹性模量的大小;根据所述预定外力大小,得到所述预定成像区域的应力大小;由所述预定成像区域的应力及弹性模量的大小,得到所述预定成像区域的理论位移值;将所述预定成像区域的理论位移值与通过磁共振弹性成像所得的成像位移值进行比较,检测出磁共振弹性成像的精确度。
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