[发明专利]一种三轴试样径向变形的测量装置与方法无效
| 申请号： | 201210434342.5 | 申请日： | 2012-11-05 |
| 公开（公告）号： | CN102901460A | 公开（公告）日： | 2013-01-30 |
| 发明（设计）人： | 叶阳升;张千里;史存林;陈锋;蔡德钩;马伟斌;姚建平;闫宏业;王立军 | 申请（专利权）人： | 中国铁道科学研究院铁道建筑研究所 |
| 主分类号： | G01B11/16 | 分类号： | G01B11/16 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 100081 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种三轴试样径向变形的测量装置和方法，其特点是用于径向变形测量装置的固定支架包括一个与三轴压力室具有相同的中心轴线的定位支架，定位支架与三轴压力室密贴；该固定支架带有沿单一方向无间隙自由滑动的滑块，滑块同位移传感器、激光测距仪联动，滑块、位移传感器和激光测距仪的竖向轴线与支架的轴线平行，可在三轴压力室外对其内部的试样进行非接触、多方位测量，该装置采用激光测距装置测量至试样表面的距离，不干扰试样，该装置可在三轴压力室外部的各方位对试样进行测量。通过测量数据、利用几何知识计算试样直径的径向变形值，通过多点测量求平均值的方法可减小误差，根据光速换算可获得实际土样变形。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 试样 径向 变形 测量 装置 方法 | ||
【主权项】：
一种三轴试样径向变形的测量装置，其特征在于用于径向变形测量装置的固定支架，该固定支架包括一个与三轴压力室具有相同的中心轴线的定位支架，定位支架与三轴压力室密贴；该固定支架带有沿单一方向无间隙自由滑动的滑块，滑块同位移传感器、激光测距仪联动，滑块、位移传感器和激光测距仪的竖向轴线与支架的轴线平行。
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