[发明专利]超口径发射过载测试方法与测试系统

摘要

本发明涉及一种超口径发射过载测试方法和测试系统。该测试系统包括加速度传感器、数据线、距离控制线、可插拔接头的活动端、可插拔接头的固定端、底座、数据采集卡、USB线、计算机；利用安装在被弹射物体内部的加速度传感器检测发射过载，通过带有可插拔接头的数据线传输发射过载数据，并存储在外部的计算机中。该测试方法具有测量结果准确、直接，不需要破坏性改装发射系统、基本不占用被弹射物体内部空间和不影响被弹射物体外弹道过程的特点。

主权项

超口径发射过载测试系统，其特征在于：包括加速度传感器（2）、第一数据线（3）、第二数据线（4）、第三数据线（8）、第四数据线（9）、距离控制线（5）、可插拔接头的活动端（6）、可插拔接头的固定端（7）、底座（13）、数据采集卡（10）、传输线（11）、计算机（12）；可插拔接头的活动端（6）包括中空套筒、滑块（17）、弹簧（14）第一电极（18）、第二电极（19）;中空套筒下端设有可插拔接头活动端的第一卡槽（15），滑块（17）为中心设有耳片（22）的圆台，耳片（22）上带有孔，滑块（17）的圆台上开有两个孔，分别与圆台底部的第一电极（18）、第二电极（19）相对应；在中空套筒的内部放置滑块（17），滑块（17）与中空套筒相互配合，使得滑块（17）的活动范围限制在中空套筒内部，在滑块（17）的圆台上放置有弹簧（14），使弹簧处于压缩状态；可插拔接头的固定端（7）为实心柱体，在实心柱体的上部设有可插拔接头固定端的第二卡槽（16），与可插拔接头活动端的第一卡槽（15）配合使用,在实心柱体上设有第一电极槽(20)、第二电极槽（21），第一电极槽(20)、第二电极槽（21）分别与第一电极（18）、第二电极（19）配合使用；在可插拔接头的固定端（7）的底部设有与第一电极槽(20)、第二电极槽（21）对应的孔；加速度传感器（2）安装在被弹射物体（1）上，加速度传感器（2）与第一数据线（3）、第二数据线（4）相连，第一数据线（3）、第二数据线（4）分别穿过滑块（17）的孔与第一电极（18）、第二电极（19）相连，距离控制线（5）一端穿过耳片（22）上的孔固定，另一端固定在被弹射物体（1）上；可插拔接头的活动端（6）通过第一卡槽（15）与可插拔接头的固定端（7）的第二卡槽（16）连接，第一电极（18）、第二电极（19）分别插入第一电极槽(20)、第二电极槽（21），可插拔接头的固定端（7）固定在底座（13）上，第三数据线 （8）、第四数据线（9）的一端分别穿过可插拔接头的固定端（7）的底部的孔与第一电极槽(20)、第二电极槽（21）相连，另一端与数据采集卡（10）相连，数据采集卡（10）通过传输线（11）与计算机（12）相连；其中第一数据线（3）、第二数据线（4）的长度大于距离控制线（5）的长度，且距离控制线（5）的长度要大于发射系统内弹道的行程距离。