[发明专利]荧光―光学联合断层成像系统及测量方法有效

专利信息
申请号: 201210408665.7 申请日: 2012-10-23
公开(公告)号: CN102920434A 公开(公告)日: 2013-02-13
发明(设计)人: 高峰;张伟;武林会;李娇;周仲兴;张丽敏;赵会娟 申请(专利权)人: 天津大学
主分类号: A61B5/00 分类号: A61B5/00
代理公司: 天津才智专利商标代理有限公司 12108 代理人: 王顕
地址: 300072*** 国省代码: 天津;12
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摘要: 发明公开一种荧光―光学联合断层成像系统及测量方法,包括光源模块,其产生不同波长的激发光并将这些激发光耦合成复合激发光;测量模块,用于放置成像目标体、接收复合激发光、对成像目标体分层进行测量,实现全三维扫描、散射出光子信号并将该光子信号转换为脉冲电信号输出;数据采集处理模块,其接收脉冲电信号并进行多维光子计数测量;计算机控制模块,用于对上述各个模块进行控制并对数据进行采集、分析和显示。本发明将荧光扩散断层成像(FDOT)与扩散光学断层成像(DOT)相融合,实现在FDOT中荧光产率和荧光寿命同时重建,提取出患病区域的目标,为下一步DOT中吸收系数和散射系数重建提供精确位置信息。
搜索关键词: 荧光 光学 联合 断层 成像 系统 测量方法
【主权项】:
一种荧光―光学联合断层成像系统,包括光源模块、测量模块、数据采集处理模块和计算机控制模块;其特征在于:所述光源模块,用于产生不同波长的激发光,并将所述不同波长的激发光耦合成复合激发光,以串列工作方式进行输出;所述测量模块,用于放置成像目标体、接收所述复合激发光、对所述成像目标体分层进行测量实现全三维扫描、散射出光子信号并将该光子信号转换为脉冲电信号输出;所述数据采集处理模块,用于接收所述脉冲电信号,进行多维光子计数测量;所述计算机控制模块,用于对所述光源模块、测量模块、数据采集处理模块进行控制,以及数据的采集、分析和显示。
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