[发明专利]一种非接触式原子气室温度测量装置及测量方法

摘要

本发明提供的是一种非接触式原子气室温度测量装置及测量方法。利用加热双绞线对原子气室进行加热，开启并调节激光器，同时利用第一分束器分出的一小部分光搭建饱和吸收谱装置；利用第二分束器将激光分为检测光和参考光，调节第一衰减器、第二衰减器使两束激光光强相等，通过λ/4波片使检测光变为左旋圆偏振光，并使检测光通过原子气室；使用第一光电探测器和第一光电探测器对探测光及参考光进行光强探测，做差除和运算，并用数字万用表记录最后处理的结果。本发明可以取代原有磁传感器中采用热敏电阻、铜丝等测温的方法，消除测温探头本身的磁性影响。并且可以省去光陷阱的制作，提高激光光束利用率。

主权项

一种非接触式原子气室温度测量装置，其特征是：原子气室（6）外密绕加热双绞线（7）置于磁屏蔽筒（8）内，激光器（1）后设置第一分光束（3a）将激光器（1）的一部分输出光分出、搭建饱和吸收谱装置（2）对激光器进行稳频控制，第一分光束（3a）后设置将激光器（1）的另一部分输出光分成参考光和检测光的第二分光束（3b），检测光和参考光的光路上分别设置第一衰减器（4a）和第二衰减器（4b），第一衰减器（4a）后设置使检测光变为圆偏振光的λ/4波片（5），出λ/4波片（5）的检测光进入原子气室（6），原子气室（6）与第二衰减器（4b）后设置分别接收检测光与参考光的第一光电探测器（9a）和第二光电探测器（9b），由运算放大器进行差除和运算后输出。