[发明专利]一种天线时延测试方法

摘要

本发明公开了一种天线时延测试方法，该方法首先在满足天线远场条件的微波暗室环境，引入与被测天线同频段，同极化的三个形式一致的标准时延天线，并将其中每两个标准时延天线组成收发链路，链路满足天线远场条件，用矢量网络分析仪测出其组合时延，再利用三组测出的组合时延值，联立方程组，求出任意一个标准时延天线的时延值，最后将时延已知的标准时延天线与被测天线组成收发链路，链路满足天线远场条件，用矢量网络分析仪测出其组合时延，再利用标准时延天线时延为已知量，解出被测天线的时延值。本发明的测试方法简单、测试精度高，并且适用范围广。

主权项

一种天线时延测试方法，其特征在于步骤如下：(1)在微波暗室环境，引入三个形式一致且与被测天线同频段、同极化的标准时延天线A，B，C；(2)将标准时延天线A和标准时延天线B组成收发链路，标准时延天线A和标准时延天线B之间的距离R满足，R≥2D2/λ，利用矢量网络分析仪测出收发链路的组合时延值T1，得到TA+TB＝T1‑TAB...............................................................(1)；其中：D为标准时延天线的最大口径，λ为标准时延天线的工作波长，TA为标准时延天线A的时延，TB为标准时延天线B的时延，TAB为标准时延天线A与标准时延天线B相位中心间的时延；(3)将标准时延天线B和标准时延天线C组成收发链路，标准时延天线B和标准时延天线C之间的距离R满足，R≥2D2/λ，利用矢量网络分析仪测出收发链路的组合时延值T2，得到TB+TC＝T2‑TBC.........................................................(2)；其中：D为标准时延天线的最大口径，λ为标准时延天线的工作波长，TB为标准时延天线B的时延，TC为标准时延天线C的时延，TBC为标准时延天线B与标准时延天线C相位中心间的时延；(4)将标准时延天线A和标准时延天线C组成收发链路，标准时延天线A和标准时延天线C之间的距离R满足，R≥2D2/λ，利用矢量网络分析仪测出收发链路的组合时延值T3，得到TA+TC＝T3‑TAC...............................................................(3)；其中：D为标准时延天线的最大口径，λ为标准时延天线的工作波长，TA为标准时延天线A的时延，TC为标准时延天线C的时延，TAC为标准时延天线A与标准时延天线C相位中心间的时延；(5)利用方程(1)、(2)、(3)解出标准时延天线A的时延TA：TA＝(T1+T2+T3‑TAB‑TBC‑TAC)/2‑T2‑TBC...............(4)；(6)将标准时延天线A和被测天线D组成收发链路，标准时延天线A与被 测天线D之间的距离R1满足，R1≥2D12/λ1，用矢量网络分析仪测出收发链路的组合时延值T4，得到被测天线的时延TD，TD＝T4‑TAD‑TA.......................................(5)；其中：D1为被测天线D的最大口径，λ1为被测天线D的工作波长，TA为标准时延天线A的时延，TD为被测天线D的时延，TAD为标准时延天线A和被测天线D相位中心间的时延。