[发明专利]使用了荧光粒子的检测对象物质的检测方法无效

专利信息
申请号: 201210363993.X 申请日: 2012-09-26
公开(公告)号: CN103033492A 公开(公告)日: 2013-04-10
发明(设计)人: 渡边裕也;笠置典之 申请(专利权)人: 富士胶片株式会社
主分类号: G01N21/64 分类号: G01N21/64
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人: 白丽;陈建全
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明提供一种待测物质的测定方法,其在利用了调整由温度导致的信号变化率的校正系统的免疫荧光分析中对照区的信号值与试验区的信号值的温度依赖性差异小,其包含(1)使待测物质和荧光粒子与存在于基板上的试验区及对照区接触并使荧光粒子与待测物质反应的工序;(2)除去未反应的荧光粒子的工序;(3)测定试验区及对照区的荧光粒子的荧光的工序;(4)使用对照区的荧光信号值校正试验区的荧光信号值的工序,其中荧光粒子为结合有(i)能够与待测物质结合的1种以上的第1结合物质和(ii)能够与第2结合物质结合但不与待测物质结合的第3结合物质的结合物质标记荧光粒子,在对照区上固定有相对于第1结合物质可结合的第2结合物质。
搜索关键词: 使用 荧光 粒子 检测 对象 物质 方法
【主权项】:
一种待测物质的测定方法,其包含下述工序:(1)使待测物质和荧光粒子与存在于基板上的试验区及对照区接触、并使荧光粒子与所述待测物质发生反应的工序;(2)对所述试验区及所述对照区的所述荧光粒子的荧光进行测定的工序;(3)使用所述对照区的荧光信号值对所述试验区的荧光信号值进行校正的工序,其中,所述荧光粒子为结合有下述(i)和(ii)的结合物质标记荧光粒子:(i)能够与所述测物质结合的1种以上的第1结合物质;(ii)能够与第2结合物质结合但不与所述待测物质结合的第3结合物质,在所述对照区上固定有相对于所述第1结合物质可结合的所述第2结合物质。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于富士胶片株式会社,未经富士胶片株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201210363993.X/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top