[发明专利]超声波探头及超声波图像诊断装置有效

专利信息
申请号: 201210337944.9 申请日: 2012-09-12
公开(公告)号: CN102988079A 公开(公告)日: 2013-03-27
发明(设计)人: 松田洋史 申请(专利权)人: 精工爱普生株式会社
主分类号: A61B8/00 分类号: A61B8/00;G01N29/24;G01S15/08;G01P5/24
代理公司: 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 代理人: 余刚;吴孟秋
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明提供一种超声波探头以及超声波图像诊断装置。上述超声波探头具有压电元件,压电元件具备:基板,具有开口部;支撑膜,设置在基板上并设置为堵塞开口部的状态;下部电极层,在支撑膜上以连续开口部内与开口部外的状态设置;第一压电体层,设置在开口部内的下部电极层上;上部电极层,设置在第一压电体层上;以及第二压电体层,在下部电极层上配置在开口部外,并且与第一压电体层分开地配置。
搜索关键词: 超声波 探头 图像 诊断 装置
【主权项】:
一种超声波探头,所述超声波探头具有压电元件,其特征在于,所述压电元件具备:基板,具有开口部;支撑膜,设置于所述基板上,在从所述基板的厚度方向俯视观察时,设置成堵塞所述开口部的一侧开口的状态;下部电极层,在所述俯视观察中,在所述支撑膜上,以连续的状态设在所述开口部内与所述开口部外;第一压电体层,在所述俯视观察中,设置在所述开口部内的所述下部电极层上;上部电极层,设置于所述第一压电体层上;以及第二压电体层,在所述俯视观察中,在所述下部电极层上配置在所述开口部外并且与所述第一压电体层分开地配置。
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