[发明专利]用于测量天线阻抗的装置及方法有效
| 申请号： | 201210327630.0 | 申请日： | 2012-09-06 |
| 公开（公告）号： | CN103513108A | 公开（公告）日： | 2014-01-15 |
| 发明（设计）人： | 威廉.D.安德森 | 申请（专利权）人： | 宏达国际电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R27/02 | 分类号： | G01R27/02 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人： | 史新宏 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 一种用于测量天线阻抗的方法及其装置。所述方法包括下列步骤。首先，由耦接至天线的信号源产生射频信号，再施加射频信号至方向性耦合器。由第一混波器将第一信号与信号进行混波，其中第一信号来自方向性耦合器且第一信号对应于来自天线的反射功率。由第二混波器将第二信号与信号进行混波，其中第二信号与第一信号间具有频率偏移。由第一低通滤波器输出天线的反射系数的实部，其中第一低通滤波器耦接至第一混波器的输出端。由第二低通滤波器输出天线的反射系数的虚部，其中第二低通滤波器耦接至第二混波器的输出端。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 测量 天线 阻抗 装置 方法 | ||
【主权项】：
一种用于测量天线阻抗的装置，所述装置包括：信号源，耦接至所述天线，所述信号源经配置用以产生射频信号；方向性耦合器，其经配置用以接收所述射频信号，并基于所述射频信号输出反射信号以及正向功率信号；第一混波器，耦接至所述方向性耦合器，所述第一混波器经配置用以对所述反射信号以及信号进行混波，以产生第一和积；第一低通滤波器，耦接至所述第一混波器的输出端，所述第一低通滤波器经配置用以产生对应于所述天线的反射系数的第一输出；延迟元件，耦接至所述方向性耦合器的输出端，所述延迟元件经配置用以产生所述反射信号的延迟版本；第二混波器，耦接至所述延迟元件，所述第二混波器经配置用以将所述反射信号的所述延迟版本与所述信号进行混波，以产生第二和积；以及第二低通滤波器，耦接至所述第二混波器的输出端，所述第二低通滤波器经配置用以产生对应于所述反射系数的第二输出，其中，所述第一输出对应于所述反射系数的实部，且所述第二输出对应于所述反射系数的虚部。
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