[发明专利]横截面测量台的校准及检验方法

摘要

本发明涉及横截面测量台的校准及检验方法，其特征在于：校准时，将标样放入校准工位，然后位移计伸出对标样测量后得到校准定值；随后，位移计伸出对横截面进行测量得到横截面测量值；最后，比较横截面测量值与标样实际尺寸的大小，判定横截面测量系统是否准确。本方法精确便利，保证了横截面积的自动测量和全自动拉伸过程的实现。

主权项

横截面测量台的校准及检验方法，其特征在于：采用厚度方向相对的一对位移计和宽度方向相对的一对位移计来对横截面测量台进行校准；校准时，首先将标样放入校准工位；然后厚度方向和宽度方向各自相对的一对位移计均对向伸出对标样的厚度和宽度进行测量，获取校准厚度定值和宽度定值； 然后，对标样的厚度和宽度再次进行测量，得到标样的实际测量厚度值和宽度值；最后，比较标样的实际测量厚度值和测量宽度值与标样标称厚度和宽度尺寸是否一致，一致则横截面测量系统准确；不一致则校准不通过，需要对测量系统进行检查确认，直至校准通过测量台方可使用；在校准后对量块进行检验测量：首先，将量块送入检验工位，然后厚度方向和宽度方向各自相对的一对位移计均对向伸出对量块的厚度和宽度进行测量，获取检验测量厚度值和检验测量宽度值；最后，通过比较测量得到的检验测量厚度和宽度值与实际量块的厚度标称值和宽度标称值的大小来判定测量过程是否准确；如果不准确，需要对横截面测量系统进行检查确认，重新进行校准，待校准通过后再进行检验。