[发明专利]GaAs太阳电池用Ge/Si衬底片的制备方法无效
申请号: | 201210281529.6 | 申请日: | 2012-08-08 |
公开(公告)号: | CN102779902A | 公开(公告)日: | 2012-11-14 |
发明(设计)人: | 高鹏;王帅;刘如彬;康培;孙强;穆杰 | 申请(专利权)人: | 天津蓝天太阳科技有限公司;中国电子科技集团公司第十八研究所 |
主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18 |
代理公司: | 天津市鼎和专利商标代理有限公司 12101 | 代理人: | 李凤 |
地址: | 300384 天津市西*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | 本发明涉及一种GaAs太阳电池用Ge/Si衬底片的制备方法,其特点是:包括以下制备过程:⑴进行材料的p+型掺杂;⑵Ge片上注入H+离子;⑶抛光;⑷等离子活化;⑸低温键合;⑹退火;⑺剥离。本发明通过采用低温键合剥离的技术,在廉价的Si片上形成了Ge薄膜构成了Ge/Si衬底片,大幅减少了Ge用量,降低了电池的成本,减轻了电池的重量;由于将晶格严重失配的材料直接连接起来,晶格失配所产生的大量位错都限制在了键合界面上,不会对其他区域材料的性能造成影响,因此不会影响太阳电池的性能,并且Ge/Si衬底片连接部位的机械强度非常高;实现了低成本高效太阳电池,适用于大规模推广使用。 | ||
搜索关键词: | gaas 太阳电池 ge si 衬底 制备 方法 | ||
【主权项】:
GaAs太阳电池用Ge/Si衬底片的制备方法,其特征在于:包括以下制备过程:⑴进行材料的p+型掺杂在清洗后的Si片和Ge片上分别进行浓度为1018‑1019cm‑3的p+型掺杂,形成深度为2000‑3000nm的Si片p+型掺杂区和Ge片p+型掺杂区;⑵Ge片上注入H+离子在掺杂剂后形成的Ge片p+型掺杂区上,注入能量115‑180keV、剂量1016‑1017cm‑2、离子束电流80‑150μA,Ge片p+型掺杂区上形成深度为500‑1000nm的Ge片H+离子注入区;⑶抛光对⑴中掺杂后的Si片和⑵中注入H+离子后的Ge片进行抛光前清洗,然后采用化学机械抛光法对Si片p+型掺杂区表面和Ge片H+离子注入区表面进行粗抛、精抛和水抛,再对Si片和Ge片进行抛光后清洗;⑷等离子活化在完成抛光、清洗的Si片p+型掺杂区和Ge片H+离子注入区进行压力为40‑50毫托,射频功率为50‑100W,采用氩气或氧气作为等离子体,氩气或氧气以流速为50‑100sccm,同时轰击30‑60秒,对Si片p+型掺杂区和Ge片H+离子注入区表面进行等离子体活化;⑸低温键合将离子体活化后的Si片p+型掺杂区表面和Ge片H+离子注入区表面作为键合面贴合在一起,置入键合腔;键合腔内压力为0.5‑1MPa、气体为N2,以10‑15℃/min的速度升温至300‑400℃后,再以3‑5℃/min的速度降温至室温,对Si片和Ge片进行1‑2小时的键合,形成键合体;⑹退火对键合体进行退火,退火温度350‑450℃,时间1‑2小时;⑺剥离采用Smart‑Cut技术,将Ge片p+型掺杂区从Ge片H+离子注入区剥离,Ge片H+离子注入区形成Ge膜层与Si片成为一体,制成Ge/Si衬底片;将衬 庹片表面抛光至平整,完成本发明GaAs太阳电池用Ge/Si衬底片的制备。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
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