[发明专利]结构损伤指数映射的系统与方法有效
| 申请号： | 201210278705.0 | 申请日： | 2012-06-26 |
| 公开（公告）号： | CN102854245B | 公开（公告）日： | 2017-04-12 |
| 发明（设计）人： | R·赫德尔;J·芬达;K·阿达梅克 | 申请（专利权）人： | 霍尼韦尔国际公司 |
| 主分类号： | G01N29/04 | 分类号： | G01N29/04;G01N29/44 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司72001 | 代理人： | 曲宝壮,刘春元 |
| 地址： | 美国新*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 提供了一种检测和评估结构缺陷的系统和方法。存储的基准数据表示感测到的发射到无缺陷结构中的超声波。由多个耦合到该结构的致动器向该结构发射超声波。由该多个致动器向该结构发射的该超声波信号被多个传感器感测到，该传感器耦合到该结构并与该致动器空间隔开，从而产生和提供传感器数据。根据基准数据和传感器数据计算信号差分系数。将计算的信号差分系数空间映射以检测该结构内的一个或多个结构缺陷。 | ||
| 搜索关键词： | 结构 损伤 指数 映射 系统 方法 | ||
【主权项】：
一种用于检测和评估结构缺陷的方法，包括步骤：存储与结构相关联的基准数据，该基准数据表示感测到的发射到没有缺陷的该结构中的超声波；从耦合到该结构的多个致动器发射超声波到该结构中；利用耦合到该结构并与致动器空间隔开的多个传感器，感测从该多个致动器发射到该结构中的超声波，从而产生并且提供传感器数据；根据该基准数据和该传感器数据计算信号差分系数；以及空间映射所计算的信号差分系数以检测该结构中的一个或多个结构缺陷，该方法的特征在于，该信号差分系数SDC利用下式计算：其中，，是分别与该基准数据和传感器数据相关联的包络，，分别是该基准数据和传感器数据的平均值，以及i和j分别是致动器和传感器的索引。
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