[发明专利]三维测量装置有效

专利信息
申请号: 201210275511.5 申请日: 2012-07-31
公开(公告)号: CN103245301A 公开(公告)日: 2013-08-14
发明(设计)人: 间宫高弘;石垣裕之 申请(专利权)人: CKD株式会社
主分类号: G01B11/24 分类号: G01B11/24;G02F1/133;G02F1/1343
代理公司: 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 11258 代理人: 柳春雷
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 提供能够有效地提高测量精度的三维测量装置。基板检查装置包括:对印刷基板照射条纹状的光图案的照射装置;对光图案进行拍摄的相机;以及基于拍摄的图像数据进行三维测量的控制装置。照射装置包括发射光的光源、以及将该光转换成条纹状的光图案的液晶光栅(4b)。液晶光栅(4b)在一对玻璃基板(31、32)之间形成有液晶层,并包括配置在其中一个玻璃基板(31)上的公共电极(33)和并排设置在另一个玻璃基板(32)上的多个带状电极(34)。并且,将带状电极(34)分成6条为1组的组,各组的带状电极(34a)等彼此分别并联连接,所述并联连接的带状电极(34a)群等分别与同一个开关元件(36a~36f)连接,并由该开关元件(36a~36f)分别控制。
搜索关键词: 三维 测量 装置
【主权项】:
一种三维测量装置,其特征在于,包括:照射单元,所述照射单元包括发射预定的光的光源、以及将来自该光源的光转换成具有条纹状的光强分布的光图案的液晶光栅,并且所述照射单元能够至少对被测量物照射该光图案;摄像单元,所述摄像单元能够拍摄来自被照射所述光图案的所述被测量物的反射光;以及图像处理单元,所述图像处理单元基于通过所述摄像单元摄像的图像数据进行三维测量;其中,所述液晶光栅包括:彼此相对配置的一对透明基板;设置在所述两个透明基板之间的液晶层;设置在所述一对透明基板中的一者上的公共电极;以及设置在所述一对透明基板中的另一者上并且隔开预定间隔相互平行地排列的多个带状电极;其中,所述液晶光栅被构成为通过控制向所述公共电极与所述带状电极之间施加的电压来改变所述液晶层的透过率,将所述多个带状电极分成以n个带状电极为1组的多个带状电极组,其中n是2以上的自然数,并且将所述各组中的排列顺序为第i个的带状电极彼此并联连接,其中i是1≦i≦n的自然数,所述液晶光栅还包括n个开关元件,所述n个开关元件分别与所述并联连接的n个带状电极群连接,并控制向该带状电极群施加的电压,所述多个带状电极组被并联驱动。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于CKD株式会社,未经CKD株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201210275511.5/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top