[发明专利]一种电阻测试方法有效
| 申请号： | 201210273406.8 | 申请日： | 2012-08-02 |
| 公开（公告）号： | CN102854386A | 公开（公告）日： | 2013-01-02 |
| 发明（设计）人： | 赵春波;李照华;林道明;谢靖;付凌云 | 申请（专利权）人： | 深圳市明微电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R27/02 | 分类号： | G01R27/02 |
| 代理公司： | 深圳中一专利商标事务所 44237 | 代理人： | 贾振勇 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市南山*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明适用于电阻测试领域，提供了一种电阻测试方法，包括下述步骤：将测试机的四个测试端分别与待测电阻的四个测试端连接，其中测试机第一测试端与第二测试端在待测电阻的同一侧相连，测试机第三、第四测试端在待测电阻的另一侧相连；分别测试测试机四个测试端之间的部分或全部电阻值，根据所述测试机四个测试端之间的部分或全部电阻值，计算待测电阻的阻值。通过使用本发明实施例所提供的电阻测试方法，能够很好解决现有电阻测试方法中接触电阻所导致测试误差的问题，测试方法简单，对测试设备要求低，易实现，而且所测试的电阻的测试值精准度高。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 电阻 测试 方法 | ||
【主权项】：
一种电阻测试方法，其特征在于，所述方法包括下述步骤：将测试机的四个测试端分别与待测电阻的四个测试端连接，其中测试机第一测试端与第二测试端在待测电阻的同一侧相连，测试机第三、第四测试端在待测电阻的另一侧相连；分别测试测试机四个测试端之间的部分或全部电阻值，根据所述测试机四个测试端之间的部分或全部电阻值，计算待测电阻的阻值。
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