[发明专利]一维光子晶体双棱镜缺陷色散分离器

摘要

本发明公开了一种缺陷一维光子晶体对多波长信号色散分离的方法，涉及光谱测量领域。本发明基于一维光子晶体光子带隙和缺陷滤波特性，通过在完美一维光子晶体引入双棱镜缺陷层，使缺陷层光学厚度能连续变化，这样不同位置对应不同的缺陷结构，使输出谱线与输入、输出位置有一一对应的关系，对多波长电磁波具有频率分离特性，并形成超精细的光谱结构。本发明有非常高的光谱分辨率，可用于分波器、光谱仪等器件上，同时本发明采用薄膜制备工艺可与其它器件集成化，制备技术成熟。

主权项

一种一维光子晶体双棱镜缺陷色散分离器，其特征在于，入射光束经过聚焦棱镜（1）聚焦后，通过共焦扩束棱镜（2）扩束后投射一维光子晶体表面，经过高低折射率周期介质层（3）、双棱镜缺陷层（4）和高低折射率周期介质层（5）色散分离后，投射到探测器（6）上形成精细的光谱结构。