[发明专利]超声成像中用于多角度M型的参数自动优化方法有效
| 申请号： | 201210265086.1 | 申请日： | 2012-07-30 |
| 公开（公告）号： | CN102793564A | 公开（公告）日： | 2012-11-28 |
| 发明（设计）人： | 吴方刚 | 申请（专利权）人： | 飞依诺科技（苏州）有限公司 |
| 主分类号： | A61B8/00 | 分类号： | A61B8/00 |
| 代理公司： | 苏州创元专利商标事务所有限公司 32103 | 代理人： | 孙仿卫;赵艳 |
| 地址： | 215123 江苏省苏*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了超声成像中用于多角度M型的参数自动优化方法，该方法在不影响多角度M型帧率的前提下，能够根据多角度M型取样线的位置来重新分配多角度M型取样区和非取样区的扫查线数，增加多角度M型深度方向上的真实点数，提高多角度M型的图像深度方向上的图像质量；还能够根据多角度M型取样线的位置来重新设置二维图像的发射焦点位置，也能提高多角度M型的图像质量，并且避免影响到图像在时间维度的质量。 | ||
| 搜索关键词： | 超声 成像 用于 角度 参数 自动 优化 方法 | ||
【主权项】：
一种超声成像中用于多角度M型的参数自动优化方法，多角度M型成像时深度方向上的一根线是由二维图像的多根扫查线在多角度M型取样线上的数据点构成，将多角度M型取样线所在的沿扫查线方向延伸的区域设定为多角度M型取样区，则二维图像的扫查线区域中的其他区为非取样区，其特征在于：所述用于多角度M型的参数自动优化方法在保证所述二维图像的帧率不变的前提下包括：根据多角度M型取样线的位置来分配多角度M型取样区和非取样区的扫查线数，使得能够增加多角度M型取样区的扫查线数，能够减少非取样区的扫查线数；根据多角度M型取样线的位置来设置二维图像的单个发射焦点位置，当二维图像的原有焦点位置靠近多角度M型取样线在深度方向上的中心位置时，保持所述二维图像的原有焦点位置；否则将多角度M型取样线在深度方向上的中心位置设定为二维图像的焦点位置。
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