[发明专利]超声成像中用于多角度M型的参数自动优化方法有效
申请号: | 201210265086.1 | 申请日: | 2012-07-30 |
公开(公告)号: | CN102793564A | 公开(公告)日: | 2012-11-28 |
发明(设计)人: | 吴方刚 | 申请(专利权)人: | 飞依诺科技(苏州)有限公司 |
主分类号: | A61B8/00 | 分类号: | A61B8/00 |
代理公司: | 苏州创元专利商标事务所有限公司 32103 | 代理人: | 孙仿卫;赵艳 |
地址: | 215123 江苏省苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 超声 成像 用于 角度 参数 自动 优化 方法 | ||
技术领域
本发明涉及医学超声成像中改善多角度M型图像质量的参数自动优化方法。
背景技术
多角度M型成像技术和常规M型成像表现方式很类似,都是在时间和深度平面上用灰度表达超声回波信号的强度,但是从成像机制上来看,两者差别较大。常规M型成像有真实的扫查线,而多角度M型成像没有自己独立的扫查,是基于二维图像序列上自定义的一条直线或者曲线(取样线),通过从每一帧二维图像获得的取样线位置数据根据时间顺序排序排列来获得与距离时间平面的图像数据。
常规M型成像在进行新功能评价方面跟二维图像相比会更为准确。常规M型能以更高的时间分辨率在时间轴上精确观察心脏运动。同时,M模式能更好得确认组织边界并且能以较高的时间分辨率比较不同解剖结构的运动。常规M型也有自身不足的地方,为了测量心腔的相关参数,需要M扫描线与心腔壁垂直,给扫查增加了一定的困难,而且常规M型只能从一条取样线方向观察心脏运动,分析不够全面,而多角度M型从二维图像上根据用户自定义的任意方向的取样线获取图像数据,分析心脏功能更全面。
从以上分析可知,由于多角度M型的一根显示数据线依赖于二维图像的一帧,因此多角度M模式深度方向上的一根线是由二维图像的若干扫查线在多角度M型取样线的数据点构成。在多角度M型的角度较小又不为0时,取样线覆盖的扫查线数会很小,这样就导致多角度M型深度方向上的真实点数会很少,从而影响多角度M型的图像深度方向上的图像质量。如果提高二维图像的扫描数以增加取样线区域覆盖的扫查线数,会导致多角度M型的帧率降低从而降低图像在时间维度的质量。
另外,由于多角度M型没有自己独立的扫查,因此也没有自己独立的焦点控制。多角度M型的图像质量也是充分依赖于二维图像的焦点。在有些情况下,多角度M型的取样线的位置离二维图像的焦点较远,这样大大降低了多角度M型的图像质量。目前的多角度M型成像,二维图像的焦点控制和扫查线数控制跟取样线的位置是不相关的,导致多角度M型的图像质量在某些取样位置时不尽如人意。
总结一下,现有技术中的多角度M型成像的不足之处在于:(1)多角度M型在小角度时,由于用到的二维图像的真实数据点少,深度维度上图像质量不高。如果提高二维图像的扫查线数,会导致多角度M型帧率降低影响时间维度上的图像质量;(2)二维图像的焦点控制与多角度M型的取样线位置割裂开来,影响了多角度M型的图像质量。
发明内容
本发明的目的是提供超声成像中用于多角度M型的参数自动优化方法,该方法在保证二维图像的帧率不变的前提下,能够提高多角度M型的图像质量。
为达到上述目的,本发明采用了以下技术方案:一种超声成像中用于多角度M型的参数自动优化方法,多角度M型成像时深度方向上的一根线是由二维图像的多根扫查线在多角度M型取样线上的数据点构成,将多角度M型取样线所在的沿扫查线方向延伸的区域设定为多角度M型取样区,则二维图像的扫查线区域中的其他区为非取样区,所述用于多角度M型的参数自动优化方法在保证所述二维图像的帧率不变的前提下包括:
根据多角度M型取样线的位置来分配多角度M型取样区和非取样区的扫查线数,使得能够增加多角度M型取样区的扫查线数,能够减少非取样区的扫查线数;根据多角度M型取样线的位置来设置二维图像的单个发射焦点位置,当二维图像的原有焦点位置靠近多角度M型取样线在深度方向上的中心位置时,保持所述二维图像的原有焦点位置;否则将多角度M型取样线在深度方向上的中心位置设定为二维图像的焦点位置。
一种超声成像中用于多角度M型的参数自动优化方法,多角度M型成像时深度方向上的一根线是由二维图像的多根扫查线在多角度M型取样线上的数据点构成,将多角度M型取样线所在的沿扫查线方向延伸的区域设定为多角度M型取样区,则二维图像的扫查线区域中的其他区为非取样区,所述用于多角度M型的参数自动优化方法在保证所述二维图像的帧率不变的前提下包括:
根据多角度M型取样线的位置来分配多角度M型取样区和非取样区的扫查线数,使得能够增加多角度M型取样区的扫查线数,能够减少非取样区的扫查线数;根据多角度M型取样线的位置来设置二维图像的多个不同发射焦点位置,使得能够对多角度M型取样线上的多个不同扫查线采取多个不同发射焦点位置的控制。
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