[发明专利]一种利用光纤干涉仪精密测量宽谱光源平均波长的方法

摘要

本发明公开了一种利用光纤干涉仪精密测量宽谱光源平均波长的方法。测量所用光纤干涉仪为赛格奈克光纤干涉仪，将光纤干涉仪固定安装在转台上，以波长为λ₁的He-Ne激光器输出作为光纤干涉仪的光源，转台转速设定±1000°/s，采集光纤干涉仪输出；然后将光纤干涉仪的光源替换为待测宽谱光源，再次采集转台转速为±1000°/s下的光纤干涉仪输出，由两次测试所得的数据计算待测宽谱光源的平均波长λ₂。利用精度为1°/h，最大输入角速度±1000°/s的赛格奈克光纤干涉仪和波长稳定性优于1ppm的He-Ne激光器，宽谱光源平均波长的测试精度可达1ppm以下。该测试方法无复杂的机械部件和光学镜头，测试过程简单可靠，测试精度高。

主权项

1.一种利用光纤干涉仪精密测量宽谱光源平均波长的方法，其特征在该方法的步骤如下：（1）将赛格奈克光纤干涉仪固定安装在转台台面上，赛格奈克光纤干涉仪的敏感轴与转台旋转轴平行；（2）以波长为λ₁的He--Ne激光器光源的输出光波I₁作为赛格奈克光纤干涉仪的光源，设定转台以1000°/s启动，记录转台转动N圈的赛格奈克光纤干涉仪输出累加和K₁₀₀₀；（3）保持赛格奈克光纤干涉仪的光源为He--Ne激光器的输出光波I₁不变，设定转台以1000°/s启动，记录转台转动N圈的赛格奈克光纤干涉仪输出累加和K₁₀₀₀；（4）将赛格奈克光纤干涉仪的光源换成待测宽谱光源的输出光波I₂，设定转台以1000°/s启动，记录转台转动N圈的赛格奈克光纤干涉仪输出累加和K^’₁₀₀₀；（5）保持赛格奈克光纤干涉仪的光源为待测宽谱光源的输出光波I₂不变，设定转台以1000°/s启动，记录转台转动N圈的赛格奈克光纤干涉仪输出累加和K^’₁₀₀₀；（6）计算待测宽谱光源输出光波I₂的平均波长₂；步骤（2）、（3）、（4）和（5）中的转台转动圈数N均相同。