[发明专利]一种中高压电缆半导电屏蔽层破损检测方法及装置无效
| 申请号： | 201210254982.8 | 申请日： | 2012-07-23 |
| 公开（公告）号： | CN102809539A | 公开（公告）日： | 2012-12-05 |
| 发明（设计）人： | 李金堂;杨军;杨娟;廖文华;高振军;孟益标;王玲红 | 申请（专利权）人： | 浙江万马电缆股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/27 | 分类号： | G01N21/27;G01N21/89 |
| 代理公司： | 杭州杭诚专利事务所有限公司 33109 | 代理人： | 尉伟敏 |
| 地址： | 311305 浙江省*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明涉及电缆质量检测技术，尤其是涉及一种用于中高压电缆半导电屏蔽层破损检测的方法及装置。使用光电传感器发射检测光线扫射深色的电缆半导电屏蔽层；当扫射到电缆半导电屏蔽层破损使其覆盖下的浅色的电缆内芯露出部分时，该检测光线被反射入光电传感器；光电传感器给出检测信号。本发明巧妙利用了电缆自身的结构特点，使用简单的光电传感器即可达到非常理想的检测效果，填补了该领域使用自动检测设备检测中高压电缆半导电屏蔽层破损的技术空白，结构组成简单，效果好，而且成本较低，使用方便，适于推广。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 高压 电缆 导电 屏蔽 破损 检测 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种中高压电缆半导电屏蔽层破损检测方法，其特征在于：使用光电传感器发射检测光线扫射深色的电缆半导电屏蔽层；当扫射到电缆半导电屏蔽层破损使其覆盖下的浅色的电缆内芯露出部分时，该检测光线被反射入光电传感器；光电传感器给出检测信号。
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