[发明专利]一种比较法测量三阶非线性折射的装置和方法有效

专利信息
申请号: 201210246409.2 申请日: 2012-07-16
公开(公告)号: CN102735648A 公开(公告)日: 2012-10-17
发明(设计)人: 宋瑛林;王伟;刘小波;倪开灶;杨俊义 申请(专利权)人: 苏州大学
主分类号: G01N21/41 分类号: G01N21/41
代理公司: 苏州创元专利商标事务所有限公司 32103 代理人: 陶海锋
地址: 215123 江苏省*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种比较法测量三阶非线性折射的装置和方法,所述装置包括相位光阑、第一光路、CCD相机,所述第一光路构成光学4f系统;其特征在于:设有分束镜和第二光路,所述第二光路构成光学4f系统;所述分束镜位于所述相位光阑后方,将光束分离至所述第一光路和第二光路,所述第一光路和第二光路的输出光分别进由所述CCD相机接收。通过比较法,可测得待测样品的三阶非线性折射系数。本发明避免了现有技术中单4f系统所需的复杂的拟合计算,使用方便,测量结果准确。
搜索关键词: 一种 比较法 测量 非线性 折射 装置 方法
【主权项】:
一种比较法测量三阶非线性折射的装置,包括相位光阑、主要由第一凸透镜、第二凸透镜和第一中性衰减片构成的第一光路、CCD相机,所述第一凸透镜和第二凸透镜构成光学4f系统;其特征在于:设有分束镜、第三凸透镜、第四凸透镜、第二中性衰减片和多个反射镜,所述第三凸透镜、第四凸透镜和第二中性衰减片构成第二光路,所述第三凸透镜和第四凸透镜构成光学4f系统;所述分束镜位于所述相位光阑后方,将光束分离至所述第一光路和第二光路,所述第一光路和第二光路的输出光分别进由所述CCD相机接收。
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