[发明专利]一种光学薄膜偏振保真度的测量方法有效
| 申请号： | 201210244004.5 | 申请日： | 2012-07-13 |
| 公开（公告）号： | CN102749187A | 公开（公告）日： | 2012-10-24 |
| 发明（设计）人： | 刘洪祥;刘志国;庞薇 | 申请（专利权）人： | 中国科学院光电技术研究所 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 | 代理人： | 成金玉;贾玉忠 |
| 地址： | 610209 *** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 一种光学薄膜偏振保真度的测量方法，其特征在于：激光器发射特定波长激光光束，通过起偏器后产生振动方位角45°线偏振光，经待测光学薄膜元件反射后，旋转检偏器，通过光功率计测量最大功率与最小功率，则最大功率与最小功率之比即为光学薄膜的偏振保真度；通过此方法可以测量多个光学元件组成的光学系统的偏振保真度。该测量装置具有结构简单，成本低，操作方便等优点。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 光学薄膜 偏振 保真度 测量方法 | ||
【主权项】：
1.一种光学薄膜偏振保真度的测量方法，其特征在于实现如下：激光器发射780nm波长的激光光束通过起偏器后产生偏振方位角45°线偏振光，偏振方位角为45°线偏振光经待测光学薄膜元件后出射光为椭圆偏振光，椭圆偏振光通过检偏器后的激光功率随检偏器旋转而发生变化，使用光功率计测量出最大功率与最小功率，则最大功率与最小功率之比即为待测光学薄膜的偏振保真度，计算公式为![]()
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椭圆偏振光长、短轴之比。
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