[发明专利]SRAM型FPGA单粒子功能性中断的监测系统及方法

摘要

本发明公开了一种SRAM型FPGA单粒子功能性中断的监测系统及方法，涉及单粒子领域。所述方法包括：设置初始LET值的重离子束流对试验板进行辐照；B：判断试验板是否出现单粒子功能性中断现象，如果是，记录试验板发生一次单粒子功能性中断；否则，认为试验板未发生单粒子功能性中断；C：判断试验板是否满足以下条件：单粒子功能性中断的次数达到预定次数，或者入射粒子总注量达到预定注量；如果是，执行步骤D；否则，执行步骤B；D：判断是否可以拟合得到σ~LET曲线，如果是，拟合得到σ~LET曲线；否则，调整重离子束流的LET值，执行步骤B。所述系统及方法，可以对FPGA在各种空间环境中的SEFI率进行预测。

主权项

一种SRAM型FPGA单粒子功能性中断的监测系统，其特征在于，包括：试验板、效应测试单元和远程监测单元；所述试验板，采用FPGA，放置在真空靶室内，用于接收辐照；所述效应测试单元，设置在所述真空靶室外部，连接所述试验板，用于监测所述试验板的单粒子功能性中断现象；所述远程监测单元，连接所述效应测试单元，用于远程控制所述效应测试单元。