[发明专利]高动态范围的图像传感器及其制造方法有效
申请号: | 201210175223.2 | 申请日: | 2012-05-31 |
公开(公告)号: | CN102683374A | 公开(公告)日: | 2012-09-19 |
发明(设计)人: | 苗田乐;方娜;田犁;汪辉;陈杰 | 申请(专利权)人: | 上海中科高等研究院 |
主分类号: | H01L27/146 | 分类号: | H01L27/146 |
代理公司: | 上海一平知识产权代理有限公司 31266 | 代理人: | 成春荣;竺云 |
地址: | 201210 *** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明涉及半导体器件领域,公开了一种高动态范围图像传感器及其制造方法。本发明中,巧妙地利用金属布线层中空余的面积,形成MIM电容,并与浮动扩散区并联,扩大了浮动扩散区域的阱容量,提高了图像传感器光生电荷储存能力,从而提高了动态范围的上限。与此同时,由于未增加浮动扩散区域本身的面积,避免了暗电流噪声的增大。 | ||
搜索关键词: | 动态 范围 图像传感器 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
一种高动态范围图像传感器,其特征在于,包含以第一绝缘介质层间隔的金属布线层和光学传感层;并且,所述金属布线层包含以第二绝缘介质层间隔的上金属线和下金属线,构成金属‑绝缘体‑金属型电容;所述光学传感层包含半导体衬底,在所述半导体衬底上划分有多个像素区域,每一个所述像素区域中包含:第一导电类型的第一、第二、第三和第四掺杂区,并且所述第一掺杂区中包含第二导电类型的第五掺杂区,所述第五掺杂区的掺杂浓度高于所述第一掺杂区的掺杂浓度;所述第一和第二掺杂区之间的半导体衬底表面上包含第一栅极,用于连接传输控制信号;所述第二和第三掺杂区之间的半导体衬底表面上包含第二栅极,用于连接复位信号;所述第三和第四掺杂区之间的半导体衬底表面上包含第三栅极,通过金属通孔连接所述下金属线;所述第二掺杂区作为浮动扩散区,通过金属通孔连接所述下金属线。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海中科高等研究院,未经上海中科高等研究院许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201210175223.2/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:道路收费系统和方法
- 下一篇:针对心电流定位的高分辨率心磁图还原
- 同类专利
- 专利分类
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的