[发明专利]一种双通道电容法测量磁致伸缩的装置及其方法

摘要

本发明属于测量技术领域，具体涉及一种双通道电容法测量磁致伸缩的装置及其方法，该装置包括样品位置及探头位置调整机构（1），位于样品位置及探头位置调整机构（1）两端的外加磁场（18），以及具有第一电气箱通道（11）和第二电气箱通道（12）的位移数据处理系统（2）。本发明根据平行板电容原理，在外加磁场下，通过测量两组样品（14）所形成的可动的样品电极与探头电极（8-1，8-2）所形成的固定电极之间的电容变化，间接测量样品的伸长或缩短量，完成磁致伸缩测量并通过双通道显示。本发明的双通道电容法测量磁致伸缩的装置及其方法具有结构设计简单，测量精度高，可靠性强的优点。

主权项

一种双通道电容法测量磁致伸缩的装置，用于测量两端平面互相平行的样品（14），其特征在于：该装置包括：样品位置及探头位置调整机构（1），位于底座（15）上，包括：样品支架（3），用于固定一个上述样品（14），样品（14）两端有两个可调节的传感器（6‑1，6‑2），传感器（6‑1，6‑2）前端有第一探头电极（8‑1）和第二探头电极（8‑2），探头电极（8‑1，8‑2）与样品（14）的同轴布置，样品（14）的两端平面分别与探头电极（8‑1，8‑2）构成空气介质电容；位移数据处理系统（2），包括分别通过电缆与两个放大器（10）的一端连接的第一电气箱通道（11）和第二电气箱通道（12），并且两个放大器（10）的另一端分别通过传感器电缆（9）与两个传感器（6‑1，6‑2）连接；位于样品位置及探头位置调整机构（1）两端的外加磁场（18）；样品（14）及传感器外壳通过导线（13）接地。