[发明专利]集成电路翻面装置及控制方法有效
申请号: | 201210174851.9 | 申请日: | 2012-05-28 |
公开(公告)号: | CN102774634A | 公开(公告)日: | 2012-11-14 |
发明(设计)人: | 叶键波;韩笑;钟锋浩;刘海瑞 | 申请(专利权)人: | 杭州长川科技有限公司 |
主分类号: | B65G47/248 | 分类号: | B65G47/248;B65G43/00;G01R31/28 |
代理公司: | 杭州杭诚专利事务所有限公司 33109 | 代理人: | 尉伟敏 |
地址: | 310052 浙江省杭州市滨江*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | 本发明涉及集成电路测试设备领域,目的是提供一种集成电路翻面效率高且利于组织集成电路测试流水作业的集成电路翻面装置及控制方法。一种集成电路翻面装置包括设有转轴的旋转座、旋转驱动机构、挡板、入料轨道和底座;旋转座设有沿圆周方向分布的至少两个集成电路容置通孔;挡板设有出料通孔;转轴与底座枢接,入料轨道和挡板分别位于旋转座的相对两侧并与底座固定连接;转动驱动机构分别与旋转座和底座固定连接;集成电路翻面装置设有用于控制入料轨道向旋转座送料的送料机构和检测旋转座转动角度的转角检测机构。该集成电路翻面装置使集成电路翻面效率高且利于组织集成电路测试的流水作业且控制方法简单实用。 | ||
搜索关键词: | 集成电路 装置 控制 方法 | ||
【主权项】:
一种集成电路翻面装置,其特征是:所述的集成电路翻面装置包括设有转轴的旋转座、旋转驱动机构、挡板、入料轨道和底座;所述的旋转座设有沿圆周方向分布的至少两个集成电路容置通孔;所述的挡板设有出料通孔;所述的转轴与底座枢接,入料轨道和挡板分别位于旋转座的相对两侧并与底座固定连接;所述的转动驱动机构分别与旋转座和底座固定连接;所述的集成电路翻面装置设有用于控制入料轨道向旋转座送料的送料机构和检测旋转座转动角度的转角检测机构。
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