[发明专利]太赫兹波检测装置、太赫兹滤波器、成像装置及计测装置无效
| 申请号： | 201210078646.2 | 申请日： | 2012-03-22 |
| 公开（公告）号： | CN102692383A | 公开（公告）日： | 2012-09-26 |
| 发明（设计）人： | 富冈纮斗 | 申请（专利权）人： | 精工爱普生株式会社 |
| 主分类号： | G01N21/25 | 分类号： | G01N21/25;G01J3/00;G02B5/20 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 李伟;王轶 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明提供一种太赫兹波检测装置、太赫兹滤波器、成像装置及计测装置，该太赫兹波检测装置的特征在于，具备：使规定波长的太赫兹波通过的滤波器，和将通过了所述滤波器的所述规定波长的太赫兹波变换为热来进行检测的检测部，所述滤波器具备：具有连通太赫兹波射入的入射面与所述规定波长的太赫兹波射出的出射面的多个孔部的金属层，和被填充于所述多个孔部且由电介质构成的电介质部，其中，所述多个孔部沿着与所述入射面的法线垂直的方向以规定的间距设置。 | ||
| 搜索关键词： | 赫兹 检测 装置 滤波器 成像 | ||
【主权项】：
一种太赫兹波检测装置，其特征在于，具备：滤波器，其使规定波长的太赫兹波通过；和检测部，其将通过了所述滤波器的所述规定波长的太赫兹波变换为热来进行检测，所述滤波器具备：金属层，其具有连通太赫兹波射入的入射面与所述规定波长的太赫兹波射出的出射面的多个孔部；和电介质部，其被填充于所述多个孔部，且由电介质构成，其中，所述多个孔部沿着与所述入射面的法线垂直的方向以规定的间距设置。
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