[发明专利]一种锥环几何参数综合检测装置无效

专利信息
申请号: 201210066878.6 申请日: 2012-03-14
公开(公告)号: CN102607413A 公开(公告)日: 2012-07-25
发明(设计)人: 王朝晖;刘丙新;郑腾飞;张群明;蒋庄德;李增良 申请(专利权)人: 西安交通大学
主分类号: G01B11/00 分类号: G01B11/00;G01B11/02;G01B11/08;G01B11/26
代理公司: 西安通大专利代理有限责任公司 61200 代理人: 徐文权
地址: 710049 *** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明公开了一种锥环几何参数综合检测装置,该装置适用于锥环(内锥)的锥度、锥高、大(或小)端直径等多项几何参数综合检测,主要的功能结构包括大、小两可动测头;芯轴;弹簧;直线轴承;定位销;CCD装置;位移传感器和接触检测传感器;所述两测头的直径差为一固定值;采用被测件动而测量装置静的测量方式,大大提高了测量效率;采用直线轴承及弹簧,测量时可以使被测件与测头自动处于正确的相对位姿,这可以极大地减少测量误差,提高测量效率;本装置一次操作即可测出被测件的3项几何参数:锥度、锥高、大(或小)端直径,相当于将测量效率提高了几倍。同时,该装置结构简单,操作方便,对操作人员的技术水平要求很低。
搜索关键词: 一种 几何 参数 综合 检测 装置
【主权项】:
一种锥环几何参数综合检测装置,其特征在于,包括基座(1),在基座(1)上端工作面垂直设置有一芯轴(5),所述芯轴(5)由下至上分别通过直线轴承安装有圆盘状的大测头(3)和小测头(4),在大测头(3)和小测头(4)之间采用第一弹簧(6)连接,大测头(3)和芯轴(5)之间采用第二弹簧(7)连接;在基座(1)上于芯轴(5)的旁侧还设置有CCD装置(9);所述芯轴(5)为空心轴,在芯轴(5)内轴向设置有光栅尺(10),在大测头(3)和小测头(4)上分别设置有与所述光栅尺(10)配合的测头(11)。
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