[发明专利]一种星上点目标检测方法有效
| 申请号： | 201210058449.4 | 申请日： | 2012-03-07 |
| 公开（公告）号： | CN102663385A | 公开（公告）日： | 2012-09-12 |
| 发明（设计）人： | 邢坤;周峰;吴立民;刘兆军;张涛;张寅生;胡斌;王斌 | 申请（专利权）人： | 北京空间机电研究所 |
| 主分类号： | G06K9/32 | 分类号： | G06K9/32 |
| 代理公司： | 中国航天科技专利中心 11009 | 代理人： | 安丽 |
| 地址： | 100076*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种星上点目标检测方法，包括对图像数据进行辐射校正处理和几何校正处理的步骤；对图像数据背景抑制处理，获得目标图像数据的步骤；剔除目标图像数据中的粒子尖峰，获得目标过采样图像数据的步骤；利用目标过采样数据获得目标位置数据的步骤。采用本发明实现了在星上对图像数据的检测实现对目标获取。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 星上点 目标 检测 方法 | ||
【主权项】：
一种星上点目标检测方法，其特征在于包括以下步骤：步骤1：利用TDI CCD的非均匀校正系数对获得的图像数据进行辐射校正处理，对辐射校正后的图像数据进行几何校正处理；所述图像数据通过对TDI CCD获取的图像信号进行过采样获得；步骤2：对经过步骤1处理的图像数据进行背景抑制处理，去除图像数据中背景图像数据获得目标图像数据；步骤3：剔除经过步骤2获得的目标图像数据中的粒子尖峰，获得目标过采样图像数据；步骤4：利用步骤3获得的目标过采样图像数据确定目标位置数据并输出。
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