[发明专利]相位变化测量系统有效

专利信息
申请号: 201210053075.7 申请日: 2012-03-02
公开(公告)号: CN103292918A 公开(公告)日: 2013-09-11
发明(设计)人: 臧二军;曹士英;孟飞;曹建平;方占军 申请(专利权)人: 中国计量科学研究院
主分类号: G01J9/04 分类号: G01J9/04
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 代理人: 毛丽琴
地址: 100013 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开一种相位变化测量系统,其中偏移频率锁定单元将第一和第二飞秒光学频率梳单元的载波包络偏移频率锁定为参考微波信号的频率,第一重复频率锁定单元利用参考激光信号对第一飞秒光学频率梳单元的重复频率进行锁定,第二重复频率锁定单元利用待测微波信号对第二飞秒光学频率梳单元的重复频率进行锁定,第一拍频单元对来自第一和第二飞秒光学频率梳单元的激光信号进行拍频处理,并根据拍频信号对应的梳齿序号值,利用拍频信号的频率除以所述梳齿序号值,从而得到待测微波信号的相位变化值。由于拍频信号可以放大微波信号的相位变化,因此可以高精度地测量微波信号相位的微小变化。
搜索关键词: 相位 变化 测量 系统
【主权项】:
一种相位变化测量系统,其特征在于,该系统包括第一飞秒光学频率梳单元、第二飞秒光学频率梳单元、参考微波单元、偏移频率锁定单元、参考激光单元、第一重复频率锁定单元、频率综合单元、第二重复频率锁定单元、第一拍频单元、测量单元,其中:参考微波单元,用于向偏移频率锁定单元提供参考微波信号;偏移频率锁定单元,用于分别将第一飞秒光学频率梳单元和第二飞秒光学频率梳单元的载波包络偏移频率锁定为参考微波信号的频率;参考激光单元,用于向第一重复频率锁定单元提供参考激光信号;第一重复频率锁定单元,用于利用参考激光信号对第一飞秒光学频率梳单元的重复频率进行锁定;频率综合单元,用于接收待测微波信号,并将待测微波信号的频率变换到与第二飞秒光学频率梳单元的重复频率相同的频率上,并将经变换处理的待测微波信号发送给第二重复频率锁定单元;第二重复频率锁定单元,用于利用经变换处理的待测微波信号对第二飞秒光学频率梳单元的重复频率进行锁定;第一飞秒光学频率梳单元和第二飞秒光学频率梳单元,用于分别将输出的激光信号提供给第一拍频单元;第一拍频单元,用于对来自第一飞秒光学频率梳单元和第二飞秒光学频率梳单元的激光信号进行拍频处理,并将得到的拍频结果提供给测量单元;测量单元,用于从拍频结果中选择任一个第一波长所对应的拍频信号,确定拍频信号的频率值在第一飞秒光学频率梳单元输出的激光信号中对应的梳齿序号值,利用拍频信号的频率除以所述梳齿序号值,从而得到待测微波信号的相位变化值,其中第一波长同时包括在第一飞秒光学频率梳单元和第二飞秒光学频率梳单元输出的激光信号中。
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