[发明专利]高压成型基质薄膜辅助-激光解析离解质谱定量分析方法无效
| 申请号： | 201210029189.8 | 申请日： | 2012-02-10 |
| 公开（公告）号： | CN103245717A | 公开（公告）日： | 2013-08-14 |
| 发明（设计）人： | 钟鸿英;黄璐璐;肖潇;郑石 | 申请（专利权）人： | 华中师范大学 |
| 主分类号： | G01N27/64 | 分类号： | G01N27/64 |
| 代理公司： | 湖北武汉永嘉专利代理有限公司 42102 | 代理人： | 张安国;伍见 |
| 地址： | 430079 湖*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 一种高压成型基质薄膜辅助-激光解析离解质谱定量分析方法。该方法将有机小分子基质在高压下压制成薄膜，再将薄膜粘在质谱仪的样品靶上，样品点在薄膜上并自然风干，将样品原位洗涤除去无机盐，自然风干后放入质谱仪进行分析。本法避免了结晶法所得晶体大小和形状的不均匀性。所得基质薄膜能起到疏水反相固定相的作用，吸附样品分子，而无机盐原位水洗除去，而且能避免样品分子在样品靶表面的扩散，从而提高了灵敏度。本法所得质谱信号稳定，重现性好，金属离子加合物干扰小，谱图背景小，信号强度与样品量呈现良好线性关系，能够进行定量分析。本方法简单，不需要复杂的仪器，无需复杂的样品前处理，无需有机溶剂，绿色环保。 | ||
| 搜索关键词： | 高压 成型 基质 薄膜 辅助 激光 解析 离解 定量分析 方法 | ||
【主权项】：
一种高压成型基质薄膜辅助‑激光解析离解质谱定量分析方法，其特征在于，该方法将有机小分子基质在高压下压制成薄膜，再将薄膜粘在质谱仪的样品靶上，样品点在薄膜上并自然风干，将样品原位洗涤除去无机盐，自然风干后放入质谱仪进行分析。
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