[发明专利]确定反射系数频散、反射能量及识别气层的方法及装置

摘要

本发明公开了一种确定反射系数频散、反射能量及识别气层的方法及装置，包括：对地震数据进行保幅处理，并提取角道集；根据地震资料的品质选择合适角度的角道集；通过叠前反演方法确定纵波速度、横波速度和密度；确定地层纵波品质因子和横波品质因子；确定反射系数频散；确定反射能量系数；确定反射能量；根据钻井和试井情况，确定门槛值；将反射能量低于门槛值的地层识别为气层。采用本发明可以将地层中含气后引起的速度频散及能量变化通过反射系数准确地反映出来，准确确定反射能量，据此判别地下储层的含气性，有效减低气层识别的多解性。

主权项

1.一种反射系数频散确定方法，其特征在于，包括：对地震数据进行保幅处理，并提取角道集；根据地震资料的品质选择合适角度的角道集；通过叠前反演方法确定纵波速度、横波速度和密度；确定地层纵波品质因子和横波品质因子；按如下公式确定反射系数频散R_f：R_f＝R(θ，Q，f)＝R(θ)+R(Q_p，f)·sec²θ+R(Q_p，Q_s，f)·sin²θ其中：R(θ)＝A+Bsin²θ+Csin²θtg²θA=12(ΔVpVp‾+Δρρ‾),]]>B=ΔVp2Vp‾-4Vs2Vp2ΔVsVs‾-2Vs2Vp2Δρρ‾,]]>C=12ΔVpVp‾]]>ΔVpVp‾=2Vp′-VpVp′+Vp,]]>Δρρ‾=2ρ′-ρρ′+ρ,]]>Vs2Vp2=12(Vs′2Vp′2+Vs2Vp2)]]>V_p和V′_p分别为地下任意两层地层的纵波速度，V_s和V′_s分别为地下任意两层地层的横波速度，ρ和ρ′分别为地下任意两层地层的密度，θ为入射角；R(Qp,f)=12π(1Qp-1Qp′)·ln(ff0)+i·14(1Qp-1Qp′)]]>R(Qp,Qs,f)=(12B-C)(ff0)2π(1Qs-1Qp)·cos(1Qs-1Qp)+(12B-C)(ff0)2π(1Qs′-1Qp′)·cos(1Qs′-1Qp′)+(C-B)-4Dπ(1Qs-1Qs′)·ln(ff0)]]>+i·[(12B-C)(ff0)2π(1Qs-1Qp)·sin(1Qs-1Qp)+(12B-C)(ff0)2π(1Qs′-1Qp′)·sin(1Qs′-1Qp′)-2D]]]>Q_p和Q′_p分别为地下任意两层地层的纵波品质因子，Q_s和Q′_s分别为地下任意两层地层的横波品质因子，f为分析频率，