[发明专利]改良的电路板的测试治具结构无效
| 申请号： | 201210011751.4 | 申请日： | 2012-01-12 |
| 公开（公告）号： | CN103207290A | 公开（公告）日： | 2013-07-17 |
| 发明（设计）人： | 苏思国 | 申请（专利权）人： | 瑞统企业股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/04 | 分类号： | G01R1/04 |
| 代理公司： | 北京市浩天知识产权代理事务所 11276 | 代理人： | 刘云贵;韩龙 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明提供一种改良的电路板的测试治具结构，其包含有相互导通的测试机台面、转接单元、万用密度板及针板单元；且该转接单元可以导针、导线或电路板的型态与测试机台面与万用密度板连接。借此，本发明改良的电路板的测试治具结构，可利用转接单元作为连接接口，而直接导通测试机台面、万用密度板及针板单元，以大幅减少测试机台面的钻孔制程以及孔中所搭配的下弹性探针，而达到结构简单、易于组装及降低成本的功效。 | ||
| 搜索关键词： | 改良 电路板 测试 结构 | ||
【主权项】：
一种改良的电路板的测试治具结构，其特征在于，包含有：一测试机台面，其具有一测试区；一转接单元，设于测试机台面上，其包括有多个层叠的导针板、分别设于各导针板上的穿孔、及分别穿设于穿孔中且一端与测试区接触导通的导针，而位于最下层导针板上所设的各穿孔与测试区对应；一万用密度板，设于转接单元的一面上，其包括有多个与最上层导针板所设各穿孔对应的对应孔、及分别设于各对应孔中且与各导针另一端接触导通的上弹性探针；以及一针板单元，其设于万用密度板的一面上，且该针板单元上设有多个分别与各上弹性探针接触导通的探针。
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