[发明专利]一种低张力ITO蚀刻液及其制备方法无效

专利信息
申请号: 201110461719.1 申请日: 2011-12-30
公开(公告)号: CN102585832A 公开(公告)日: 2012-07-18
发明(设计)人: 殷福华;季文庆;朱龙;邵勇;栾成 申请(专利权)人: 江阴江化微电子材料股份有限公司
主分类号: C09K13/00 分类号: C09K13/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 214423 江苏省*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种低张力ITO蚀刻液及其制备方法,所述ITO蚀刻液包括以下重量百分比的组合物:草酸3.2%~3.6%;正己酸0.1%~0.2%;水6.2%~96.6%。本发明提供的低张力ITO蚀刻液及其制备方法,通过在原有工艺的基础上新加入了添加剂正己酸,能有效降低ITO蚀刻液的表面张力,使其能够产生渗透,浸润的作用,提高草酸的蚀刻效果,使其在不影响产品质量的前提下提高产品的蚀刻效果,并使产品能在较低的环境温度下保存,避免了原有技术造成的蚀刻不干净,不能在低温下储存的缺点,本方法能适用于大规模生产。
搜索关键词: 一种 张力 ito 蚀刻 及其 制备 方法
【主权项】:
一种低张力ITO蚀刻液,其特征在于,包括以下重量百分比的组合物:草酸      3.2%~3.6%;正己酸    0.1%~0.2%;水        96.2%~96.6%。
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