[发明专利]一种非AD口按键检测电路及其检测方法

摘要

本发明涉及一种非AD口按键检测电路及其检测方法,包括电阻R1、电阻R2、二极管D1、二极管D2、二极管D3、二极管D4、按键S1、按键S2、按键S3、按键S4、按键S5、按键S6以及IC芯片的电源输出VCC端口、I/O1端口、I/O2端口、GND接地端口。同时，该检测方法，包括以下步骤：a、触发按键S1－S6的任意按键；b、I/O1端口、I/O2端口通过系统分别同时设置为输入状态、同时设置为输出状态、相互交替地互设为输入输出状态；c、IC芯片运算处理后，输出按键状态数据。采用该结构的非AD口按键检测电路,只需要两个I/O口就能检测六个按键。

主权项

一种非AD口读键的按键检测电路，其特征在于，包括电阻（R1）、电阻（R2）、二极管（D1）、二极管（D2）、二极管（D3）、二极管（D4）、按键（S1）、按键（S2）、按键（S3）、按键（S4）、按键（S5）、按键（S6）以及IC芯片的电源输出VCC端口、I/O 1端口、I/O 2端口、GND接地端口，按键（S1）、按键（S2）、按键（S3）的一端均接地，按键（S1）另一端与I/O1端口、电阻（R1）的一端连接，电阻（R1）的另一端接电源输出VCC端口；按键（S2）的另一端与I/O2端口、电阻（R2）的一端连接，电阻（R2）的另一端接电源输出VCC端口；按键（S3）的另一端分别与二极管（D1）的阴极、二极管（D2）的阳极连接，二极管（D1）的阳极接I/O 2端口，二极管（D2）的阴极接I/O 1端口；所述按键（S4）、按键（S5）、按键（S6）的一端均与I/O 2端口连接，按键（S5）的另一端与二极管（D3）的阴极连接，按键（S6）的另一端与二极管（D4）的阳极连接，二极管（D3）的阳极、二极管（D4）的阴极、按键（S4）的另一端均与I/O 1端口连接。